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中級(jí)會(huì)員 | 第1年

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  • Otsuka大塚液晶層間隙量測(cè)設(shè)備

    Otsuka大塚液晶層間隙量測(cè)設(shè)備產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全...

    型號(hào)： Otsuka大塚R... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 17:34:27 對(duì)比
    Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測(cè)設(shè)備多通道分光檢出器偏光光學(xué)系
  • Otsuka大塚 液晶層間隙量測(cè)設(shè)備

    Otsuka大塚 液晶層間隙量測(cè)設(shè)備產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安...

    型號(hào)： Otsuka大塚R... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 17:14:10 對(duì)比
    RETS seriesOtsuka大塚液晶層間隙量測(cè)設(shè)備偏光光學(xué)系多通道分光檢出器
  • Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀易使用

    Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀易使用即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 15:09:34 對(duì)比
    SF-3Otsuka大塚易使用分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測(cè)
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 15:03:00 對(duì)比
    體積小Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測(cè)
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 14:24:33 對(duì)比
    SF-3Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀非接觸式體積小
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測(cè)

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測(cè)即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 14:22:26 對(duì)比
    Otsuka大塚SF-3高度檢測(cè)分光干涉式晶圓膜厚儀安裝簡(jiǎn)易
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀安裝簡(jiǎn)易

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀安裝簡(jiǎn)易即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 14:22:07 對(duì)比
    Otsuka大塚安裝簡(jiǎn)易SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測(cè)
  • Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀

    Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 10:06:47 對(duì)比
    SF-3Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀省空間安裝簡(jiǎn)易
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀省空間

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀省空間即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破...

    型號(hào)： Otsuka大塚S... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/12 8:57:37 對(duì)比
    分光干涉式晶圓膜厚儀省空間Otsuka大塚SF-3安裝簡(jiǎn)易
  • Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富

    Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富MCPD-6800是用于分光檢測(cè)與分析的基本系統(tǒng)。可以瞬間進(jìn)行分光光譜的測(cè)量,也可以通過(guò)自由組合的光學(xué)系和豐富的配件，搭建...

    型號(hào)： Otsuka大塚M... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/10 14:48:01 對(duì)比
    MCPD-6800Otsuka大塚配件豐富多通道光譜儀廣泛應(yīng)用
  • Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測(cè)量

    Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測(cè)量 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏...

    型號(hào)： Otsuka大塚O... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/9 16:25:55 對(duì)比
    OPTM seriesOtsuka大塚高精度測(cè)量顯微分光膜厚儀高性價(jià)比
  • Otsuka大塚顯微分光膜厚儀操作簡(jiǎn)單

    Otsuka大塚顯微分光膜厚儀操作簡(jiǎn)單非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)...

    型號(hào)： Otsuka大塚 ... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/9 16:01:48 對(duì)比
    OPTM seriesOtsuka大塚操作簡(jiǎn)單顯微分光膜厚儀高精度
  • Otsuka大塚顯微分光膜厚儀高精度

    Otsuka大塚顯微分光膜厚儀高精度 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)...

    型號(hào)： Otsuka大塚O... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/9 15:49:33 對(duì)比
    OPTM series高精度OTSUKA/日本大塚顯微分光膜厚儀高性價(jià)比
  • Otsuka大塚顯微分光膜厚儀

    Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚...

    型號(hào)： Otsuka大塚O... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/9 15:31:51 對(duì)比
    OPTM series顯微分光膜厚儀OTSUKA/日本大塚高精度高性價(jià)
  • Otsuka大塚多通道光譜儀

    Otsuka大塚多通道光譜儀MCPD-9800為瞬間多通道分光器MCPD系列的高級(jí)機(jī)型，與本公司以往的機(jī)型相比，實(shí)現(xiàn)了寬動(dòng)態(tài)范圍、低雜散光功能、以及更高速、更高...

    型號(hào)： OTSUKA/日本... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/9 11:10:47 對(duì)比
    OTSUKA/日本大塚多通道光譜儀MCPD-9800高速測(cè)量豎立式設(shè)計(jì)
  • Otsuka大塚多通道光譜儀

    Otsuka大塚多通道光譜儀MCPD-6800是用于分光檢測(cè)與分析的基本系統(tǒng)?？梢运查g進(jìn)行分光光譜的測(cè)量,也可以通過(guò)自由組合的光學(xué)系和豐富的配件，搭建各式各樣的...

    型號(hào)： Otsuka大塚M... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/9 10:58:20 對(duì)比
    Otsuka大塚MCPD-6800多通道光譜儀豎立式設(shè)計(jì)寬動(dòng)態(tài)范圍
  • Otsuka大塚 多通道光譜儀

    Otsuka大塚 多通道光譜儀MCPD-6800是用于分光檢測(cè)與分析的基本系統(tǒng)。可以瞬間進(jìn)行分光光譜的測(cè)量,也可以通過(guò)自由組合的光學(xué)系和豐富的配件，搭建各式各樣...

    型號(hào)： MCPD-6800 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/6 17:36:38 對(duì)比
    MCPD-6800多通道光譜儀OTSUKA/日本大塚廣泛應(yīng)用配件豐富
  • Otsuka大塚 多通道光譜儀應(yīng)用廣泛

    Otsuka大塚 多通道光譜儀應(yīng)用廣泛MCPD-6800是用于分光檢測(cè)與分析的基本系統(tǒng)。可以瞬間進(jìn)行分光光譜的測(cè)量,也可以通過(guò)自由組合的光學(xué)系和豐富的配件，搭建...

    型號(hào)： Otsuka大塚M... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/6 10:00:07 對(duì)比
    Otsuka大塚MCPD-6800高速測(cè)量應(yīng)用廣泛多通道光譜儀
  • Otsuka大塚 多通道光譜儀高機(jī)型

    Otsuka大塚 多通道光譜儀高機(jī)型MCPD-9800為瞬間多通道分光器MCPD系列的高級(jí)機(jī)型，與本公司以往的機(jī)型相比，實(shí)現(xiàn)了寬動(dòng)態(tài)范圍、低雜散光功能、以及高速...

    型號(hào)： OTSUKA/日本... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/6 9:48:59 對(duì)比
    MCPD-9800高機(jī)型OTSUKA/日本大塚多通道光譜廣泛應(yīng)用
  • Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)

    Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到...

    型號(hào)： OTSUKA/日本... 所在地：蘇州市參考價(jià)： ￥100000更新時(shí)間：2025/6/4 15:37:50 對(duì)比
    多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA/日本大塚操作簡(jiǎn)單廣泛應(yīng)用
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