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Webinar丨賽默飛近產線晶圓級FIB助力工藝改進和良率提升

閱讀:59      發布時間:2024-12-17
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賽默飛高級產品市場經理Jay Jordan博士為大家帶來題為Accelerate actionable data for prompt fab process improvement using the Helios EXL(使用 Helios EXL 加速獲得驅動型數據迅速改進生產工藝)的主題Webinar,詳細介紹賽默飛近產線晶圓級FIB如何助力工藝改進和良率提升,加速產品上市。

 

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(Webinar時長約50分鐘)

通過Webinar,相信您已經更了解先進半導體制造給缺陷和失效分析帶來的挑戰,并且意識到賽默飛近產線FIB工作流程可以幫助您和您的企業化繁為簡。

 

 

 

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