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目錄:賽默飛電子顯微鏡>>透射電子顯微鏡(TEM)>> 300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM

300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM
  • 300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-03-21 09:48:48瀏覽次數:1496評價

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價格區間 面議 儀器種類 熱場發射
應用領域 環保,化工
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM適用于所有材料科學和半導體應用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡。

為了讓科學家們更好地了解復雜樣品并開發新材料,他們需要具有相應構造與功能的設備——不但能夠分辨空間、時間和頻率,而且可靠精確。

賽默飛世爾科技推出了Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM,這是一種適用于所有材料科學應用的最高分辨率像差校正掃描透射電子顯微鏡。

300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM建立在一個超穩定的基礎上

所有的Spectra 300 (S)TEM都安裝在新平臺上,旨在通過被動和(可選配)主動隔振提供機械穩定性和最高成像質量。

該系統安裝在一個重新設計的外殼內,內置屏幕顯示,便于裝載和取出標本。這是電子顯微鏡可以對無矯正器和單矯正器配置時的不同高度提供模塊化和可升級性,從而為不同的房間配置提供最大的靈活性。

300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM的規格

圖像矯正器

  • 能量散布:0.2–0.3 eV

  • 信息限制:60 pm

  • STEM 分辨率:136 pm

探針矯正器:

  • 能量散布:0.2–0.3 eV

  • 信息限制:100 pm

  • STEM 分辨率:50 pm(30 kV 下 125 pm)

未校正

  • 能量散布:0.2–0.3 eV

  • 信息限制:100 pm

  • STEM分辨率:136 pm

X-FEG/單色器雙校正(探針+圖像矯正器)

  • 能量散布:0.2–0.3 eV

  • 信息限制:60 pm

  • STEM分辨率:50 pm(30 kV 下 125 pm)

X-CFEG 雙校正(探針+圖像校正)

  • 能量散布:0.4 eV

  • 信息限制:70 pm

  • STEM分辨率:50 pm(30 kV 下 136 pm)

離子源

  • X-FEG Mono:高亮度肖特基場發射槍和單色器,可調諧能量分辨率范圍為 1-<0.2 eV

  • X-FEG UltiMono:高亮度肖特基場發射槍,配備超穩定單色器和加速電壓,可調諧能量分辨率范圍為 1eV-<0.03eV

  • X-CFEG:固有能量分辨率 <0.4 eV 的超高亮度

  • 30 – 300 kV 的靈活高張力范圍


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