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快速退火爐
AS-One systems快速退火爐是專門為滿足大學、研究實驗室和小規模生產的需求而研制的，高可靠且性價比高。該工藝室采用貝殼式設計，可*進入底板，方便裝載和...
型號： AS-One sy... 所在地：香港特別行政區參考價：面議更新時間：2025/5/12 15:52:42 對比

快速退火爐退火爐 AS-One systems快速退火爐
高溫霍爾效應測試儀
ECOPIA公司的HMS系列高溫霍爾效應測試儀，霍爾效應系統，霍爾效應測量系統主要由恒電流源、范德堡法則終端轉換器、低溫（77K）測量系統及磁場強度輸入系統組成...
型號： HMS-3300 所在地：香港特別行政區參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:10:44 對比

霍爾效應測試儀高溫霍爾效應測試儀
霍爾效應測試儀
霍爾效應測試儀，霍爾效應系統主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，...
型號： HMS-3000 所在地：香港特別行政區參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:10:03 對比

霍爾效應測試儀霍爾效應測試儀霍爾效應系統
薄膜沉積系統
Trion Orion III PECVD薄膜沉積系統可以在緊湊的平臺上生產高品質的薄膜。*的反應器設計可以在在極低的功率生產具有優異臺階覆蓋的低應力薄膜。該系...
型號： Trion Ori... 所在地：香港特別行政區參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:09:19 對比

薄膜沉積薄膜沉積系統
等離子刻蝕ICP
等離子刻蝕ICP基片通過預真空室裝入。其避免與工藝室以及任意殘余刻蝕副產品接觸，從而提高了用戶安全性。預真空室還使得工藝室始終保持在真空下，從而隔絕外部濕氣，防...
型號： Minilock-... 所在地：香港特別行政區參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:08:53 對比

等離子蝕刻等離子蝕刻系統
紫外掩膜曝光機
OAI 200型光刻機和紫外掩膜曝光系統是一種經濟高效的高性能工具，采用行業驗證的模塊化組件進行設計，使OAI成為MEMS，納米技術和半導體設備行業的ling ...
型號： Model 200 所在地：香港特別行政區參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:07:32 對比

曝光機 OAI 紫外掩膜對準曝光機光刻機紫外掩膜曝光系統
半自動引線鍵合機，焊線機（Wire Bonder）
全新設計的WB-200型半自動細絲鍵合機非常適合實驗室研發，產品原型試產，產品評估，產品返修等在有限預算下，同時必須要保證高質量鍵合的用戶。
型號： WB-200 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:06:28 對比

鍵合機半自動鍵合機 Wire Bonder 引線鍵合機
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀，方塊電阻測試儀可對金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導和薄膜電導率進行測繪。R54是方塊電阻測量...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:05:47 對比

R50方塊電阻測試儀 R50系列四探針電阻測試儀電阻測試儀方塊電阻測試四探針電阻測試
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀為生產和研發環節提供了從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:05:03 對比

kla 探針式輪廓儀 kla p-7 p-7 臺階儀
KLA iMicro納米壓痕儀
KLA iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬質涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度測試、劃痕和納米級萬能試驗等多種納米力學測試...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:04:40 對比

KLA iMicro納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀納米劃痕測試納米壓痕測量
KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統
KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統先進的集成式表面和光致發光(PL)缺陷檢測系統可以捕獲各種關鍵襯底和外延缺陷。采用統計制程控制(SP...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:04:22 對比

KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統表面缺陷檢測系統晶圓表面缺陷檢測晶圓光學檢測晶圓檢測
KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統
KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統第二代集成式光致發光和表面檢測系統，設計用于對碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進行高級表征。采用統計制...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:04:12 對比

KLACandela® 8520表面缺陷檢測系統表面缺陷檢測系統晶圓表面檢測晶圓缺陷光學檢測晶圓光學檢測
KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統
KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統它使用多通道檢測和基于規則的缺陷分類，對不透明、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、磷化銦、鉭酸鋰、鈮酸鋰、...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:03:58 對比

KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統表面缺陷檢測系統晶圓缺陷檢測半導體缺陷檢測晶圓光學檢測
薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動化R-Theta平臺，支持標準和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達450毫米，能高效測繪薄膜厚度。該設備適...
型號： KLA Filme... 所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:03:36 對比

KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀 Filmetrics F50薄膜厚度測量儀 Filmetrics F50 薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀
薄膜應力測量系統
薄膜應力測量系統：在硅片等基板上附膜時，由于基板和薄膜的物理定數有異，產生應力，進而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現為基板的翹曲，而薄膜應力測量裝...
型號： Toho FLX-... 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:03:07 對比

薄膜測試薄膜應力日本薄膜應力薄膜應力測試薄膜應力測試系統
旋風等離子清洗機
Tergeo等離子清洗機，旋風等離子清洗機操作方法：自動配方執行；自動作業順序執行；亦可手動操作。工藝控制能力：壓力傳感器、溫度傳感器、MFC氣體流量計、雙等離...
型號： Tergeo 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:02:41 對比

等離子清洗機旋風等離子清洗機 plasma Tergeo 研究型
Tergeo等離子清洗機
Tergeo等離子清洗機清洗方式：沉浸式等離子清洗可以高速刻蝕和表面改性；遠程等離子體可以輕微的清除表面污染，如SEM、TEM樣品清洗；脈沖放電后產生等離子體的...
型號： Tergeo-pl... 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/5/9 17:01:34 對比

Tergeo等離子清洗機實驗型等離子清洗機臺式等離子清洗機研究型等離子清洗機小批量等離子清洗機
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺階。D-500也支持在研發和生產環節中對粗糙度、彎曲度和應力...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/17 10:32:02 對比

Alpha-Step®D-500 KLA-Tencor 探針式輪廓儀臺階儀接觸式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產和研發環節提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/17 10:30:38 對比

KLA P-17 探針式輪廓儀臺階儀粗糙度測量
KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀
半導體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2...
型號：所在地：香港特別行政區參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/17 10:27:03 對比

科磊探針式輪廓儀 Alpha-Step® D-600 kla 半導體表面測量

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