| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 鋼鐵/金屬,綜合 |
|---|---|---|---|
| 元素檢測范圍 | 鉀(19)～鈾(92) | 分析范圍 | 0.010%～99.999% |
| 檢測精度 | ±0.03%(9999金) | 檢測樣品 | 貴金屬合金/液體 |
| 探測器 | 美國AMPTEK定制Si-PIN | 內置工控電腦 | Intel i3十核 |
XF-A5SLite是西凡儀器在2025年推出的一款光路全新升級的貴金屬檢測儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈。該產品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，內置Intel十核CPU電腦，采用Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，可獲得更小的實際照射焦斑。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比更高。
產品特點
元素檢測范圍：鉀(19)～鈾(92)
可支持最多30個元素同時計算
鍍層報警、錸鎢檢測報警
分析范圍：
貴金屬：0.010%～99.999%
液體：10mg/L~200g/L
檢測精度：
貴金屬：±0.03%(9999金)
液體：RSD≤2.5%
檢測樣品：貴金屬合金/液體
支持多點連續測試，測試效率高
核心部件
探測器：美國AMPTEK定制Si-PIN
探測器面積：6mm2
分辨率：145±5eV
內置工控電腦：Intel i3十核
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鋁
靶材：鎢
焦點：Φ0.5mm
準直器：Φ2.0毫米
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