XF-S8貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬行業推出的一款專用檢測萬足金的旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測和液體濃度檢測，可廣泛應用于珠寶首飾工廠、實驗室、檢測站和回收等行業和單位。該產品采用美國AMPTEK定制Fast-SDD探測器，內置十二核工控電腦，采用X射線與可見光共焦點光路設計和全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，適用范圍廣。

產品特點

元素檢測范圍：鋁(13)～鈾(92)

可支持最多30個元素同時計算

鍍層報警、錸鎢檢測報警

可支持寶石人工/天然分析

分析范圍：

貴金屬：0.0010%～99.9999%

鍍層：0.001um~80um

液體：5mg/L~200g/L

檢測精度：

貴金屬：±0.001%(99999金)

鍍層：RSD≤1.5%

液體：RSD≤1.5%

檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/液體

支持多點連續測試，測試效率高

三準直器，多濾光片自動切換

遵守ISO3497及ISO3497標準

支持連接天平采集重量數據以及獲取黃金實時牌價計算價格

支持自動計算多結果的平均值和RSD

測試案例