XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，內置Intel十核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比高。MC型號支持雙準直器，應用范圍更廣。

產品特點

元素檢測范圍：鉀(19)～鈾(92)          

可支持最多30個元素同時計算

可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

可支持寶石人工/天然分析

鍍層報警、錸鎢檢測報警

分析范圍：

貴金屬：0.010%～99.999%  

鍍層：0.002um~80um

液體：10mg/L~200g/L

檢測精度：

貴金屬：±0.03%(9999金)

鍍層：RSD≤2.5%

液體：RSD≤2.5%

檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體

支持多點連續測試，測試效率高

遵守ISO23345及ISO3497標準

核心部件

探測器：美國AMPTEK定制Si-PIN

探測器面積：6mm²

分辨率：145±5eV

內置工控電腦：Intel i3十核

高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鋁

靶材：鎢

焦點：Φ0.5mm

準直器：Φ0.8毫米+Φ2.0毫米