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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀> KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀

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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀

參考價50000-999999/臺
具體成交價以合同協議為準

聯系方式:劉先生查看聯系方式

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


 

FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學博士共同創辦的德國公司。基于 Science is international”的想法,“全球協同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學家到科學家,科學開創美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導體技術、材料科學、生命科學等科研領域,始終秉承“前沿、專業、科學”的宗旨,將前沿技術引進到協同實驗室。我們的產品覆蓋了微納加工制程;材料科學的檢測、分析;生命科學成像,腦科學與行為認知等相關領域。作為全球科技前沿的儀器供應商,FIRSTNANO具有全球技術視野、優質供應體系、以及嚴格的質量管控系統,能為客戶提供前沿的技術解決方案。

公司服務的客戶領域廣泛,其中包括消費電子、航空、航天、醫藥技術、半導體行業、光電子行業、高校和研究機構。

在成長的過程中,我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港(中華區)公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構。

我們真誠邀請業內英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚帆起航!

 

 

 

 

 

半導體儀器和電子產品耗材耗材

產地類別 進口 價格區間 50萬-100萬
應用領域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

監控薄膜沉積,有力的工具

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀光譜反射率系統能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數 (n 和 k 值) 和半導體以及電介質層的均勻性。

樣品層

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀分子束外延和金屬有機化學氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的,或輕度吸收的薄膜。 這實際上包括從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料。

各項優點:

  • 極大地提高生產力

  • 低成本 —幾個月就能收回成本

  • A精確 — 測量精度高于 ±1%

  • 快速 — 幾秒鐘完成測量

  • 非侵入式 — 在沉積室以外進行測試

  • 易于使用 — 直觀的 Windows™ 軟件

  • 幾分鐘就能準備好的系統

型號規格

型號厚度范圍波長范圍

F30

15nm-70μm
380-1050nm
F30-EXR15nm-250μm
380-1700nm
F30-NIR100nm-250μm950-1700nm
F30-UV
3nm-40μm190-1100nm
F30-UVX3nm-250μm190-1700nm
F30-XT
0.2μm-450μm1440-1690nm




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