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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀> KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀

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KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀

參考價50000-999999/臺
具體成交價以合同協議為準

聯系方式:劉先生查看聯系方式

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


 

FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學博士共同創辦的德國公司。基于 Science is international”的想法,“全球協同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學家到科學家,科學開創美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導體技術、材料科學、生命科學等科研領域,始終秉承“前沿、專業、科學”的宗旨,將前沿技術引進到協同實驗室。我們的產品覆蓋了微納加工制程;材料科學的檢測、分析;生命科學成像,腦科學與行為認知等相關領域。作為全球科技前沿的儀器供應商,FIRSTNANO具有全球技術視野、優質供應體系、以及嚴格的質量管控系統,能為客戶提供前沿的技術解決方案。

公司服務的客戶領域廣泛,其中包括消費電子、航空、航天、醫藥技術、半導體行業、光電子行業、高校和研究機構。

在成長的過程中,我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港(中華區)公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構。

我們真誠邀請業內英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚帆起航!

 

 

 

 

 

半導體儀器和電子產品耗材耗材

產地類別 進口 價格區間 50萬-100萬
應用領域 電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合

走在前端 以較低的價格

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀現在可以很容易地測量曲面樣品,包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層, 僅需其他設備一小部分的的價格就能在幾秒內得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓練, 您甚至可以直覺的藉由設定任何波長范圍最大, 最小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀


容易設定. 易於維護

只需將KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創新, F10-ARc幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準,你不需擔心維護問題。

獲得精確的測量.

  • 自動基準功能大大增加基準間隔時間, 量測準確性優於其他光纖探頭反射測量系統5倍

  • 可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級 測量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度

  • 我們探頭設計可排除98%背面反射,當鏡片比1.5mm 更厚時, 可排除比例更高

  • 修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現象




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