單點開爾文探針

單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界分辨率的測試系統。

• 產品特點

• 掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界zui高分辨率的測試系統。

• 詳細介紹

•  

  掃描開爾文探針
  掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。
  
  主要特點：
  ● 功函分辨率< 3meV
  ● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）
  ● 掃描分辨率：317.5nm
  ● 自動高度調節
  應用領域：
  ● 有機和非有機半導體
  ● 金屬
  ● 薄膜
  ● 太陽能電池和有機光伏材料
  ● 腐蝕
  升級附件：
  ● 大氣光子發射系統
  ● 表面光電壓(QTH or LED)
  ● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
  ● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
  ● 相對濕度控制和氮氣環境箱