XF-A5SLite是西凡儀器在2025年推出的一款光路全新升級(jí)的貴金屬檢測(cè)儀，可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈。該產(chǎn)品搭載美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN探測(cè)器，內(nèi)置Intel十核CPU電腦，采用Smart FP算法，創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點(diǎn)垂直光路，可獲得更小的實(shí)際照射焦斑。檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，性價(jià)比更高。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鉀(19)～鈾(92)

可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

鍍層報(bào)警、錸鎢檢測(cè)報(bào)警

分析范圍：

貴金屬：0.010%～99.999%

液體：10mg/L~200g/L

檢測(cè)精度：

貴金屬：±0.03%(9999金)

液體：RSD≤2.5%

檢測(cè)樣品：貴金屬合金/液體

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN

探測(cè)器面積：6mm²

分辨率：145±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鋁

靶材：鎢

焦點(diǎn)：Φ0.5mm

準(zhǔn)直器：Φ2.0毫米