XF-S6是西凡儀器推出的旗艦款多功能X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制Fast-SDD探測器、配備多準直器和多濾光片，內置Intel 12核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、RoHS有害物質、鍍層厚度、礦石成分和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高。

產品特點

元素檢測范圍：鋁(13)～鈾(92)          

可支持最多30個元素同時計算

可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

可支持寶石人工/天然分析

鍍層報警、錸鎢檢測報警

分析范圍：

貴金屬：0.010%～99.999%

鍍層：0.001um~80um

液體：5mg/L~200g/L

RoHS：10ppm~99.999%

檢測精度：

貴金屬：±0.01%(9999金)

鍍層：RSD≤1.5%

液體：RSD≤1.5%

RoHS：1ppm（理想狀態）

檢測樣品：

合金/鍍層/寶石/珍珠/液體/粉末/RoHS

支持多點連續測試，測試效率高

支持連接天平采集重量數據以及獲取黃金實時牌價計算價格

支持自動計算多結果的平均值和RSD

遵守ISO23345及ISO3497標準

核心部件

探測器：美國AMPTEK定制Fast-SDD

探測器面積：25mm²

分辨率：125±5eV

內置工控電腦：Intel i5十二核

高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹

靶材：鎢

焦點：Φ0.1mm

準直器：Φ0.5mm+Φ1.5mm