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安徽奧科試驗設備有限公司
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COB BI測試老化試驗箱的應用

時間：2025/2/28閱讀：326
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COB BI測試老化試驗箱，專為COB（Chip on Board，板上芯片）封裝及BI（Backlight Inverter，背光逆變器）等電子元件的高溫老化測試設計，遵循ISO 9001質量管理體系及GB/T 2423、IEC 60068等環境試驗標準。


設備特點：

設備通過模擬長期高溫工況，驗證元件熱穩定性、材料耐受性及電氣性能可靠性，適用于研發驗證、量產篩選及質量抽檢全流程。

精準調控：溫度波動度≤±0.5℃，偏差≤±2.0℃，均勻度≤3℃（滿足GB/T 10592-2008等標準）；
快速響應：支持≥10℃/min平均升溫速率（100kg負載），溫度過沖<2.0℃；

智能算法：PID自適應調節，確保長期穩定性。

人機交互：顯示屏+PLC控制，支持 RS-485 通訊，可與上位機連接；
數據追溯：內置存儲芯片記錄數據，支持U盤導出及Modbus RTU協議遠程監控；

故障自檢：10+項安全報警（含加熱器斷路、風機過載、傳感器異常等）。


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