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目錄:光焱科技股份有限公司>>EQE/光子-電子轉換測試>>損耗缺陷分析>> REPS Ultra太陽能電池Voc損耗分析儀

太陽能電池Voc損耗分析儀
  • 太陽能電池Voc損耗分析儀
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 REPS Ultra
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 高雄市
屬性

產地類別:進口 應用領域:能源

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更新時間:2025-03-14 12:23:06瀏覽次數:8518評價

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產地類別 進口 應用領域 能源
EL-EQE?un-repeatability <1% EL-EQE?un-reproducibility <1.5%
價格區間 面議 測量模式 咨詢光焱科技專家
光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統,可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss,并為下一步的工藝改進提供思路。

產品介紹

 

  為了將轉換效率推至熱力學極限,有機太陽能電池和鈣鈦礦太陽能電池努力將開路電壓(Voc)提高至Shockley-Queisser極限。 全新設計的REPS_Ultra是一個綜合系統,幫助科學家測量、計算和分析工作中太陽能電池的Voc損失,并提供改進建議。

  1.探索科學的極限:REPS_Ultra通過提供準確而全面的數據,使研究人員能夠探索科學的極限。

  2.優異的弱光偵測性能:創新型的REPS_Ultra可以偵測低至10-6% nit的弱光亮度,具有8個數量級的動態范圍。 這一性能比前代REPS_Pro提高了1,000倍,比市場上其他同類產品的4個數量級動態范圍強10,000倍。 其優異的極弱光偵測能力特別適合有機材料或新型材料研究,可協助研究團隊探索科學的極限。

  3.提升的量測速度:全新設計的REPS_Ultra比前代REPS_Pro的量測速度顯著提升了30%,可在30秒內完成40個點位掃描,大幅提升研究團隊的效率。


特點


 ● 可測量:絕對電致發光量子效率 (EL-EQE)、電致發光光譜隨電壓的變化 [EL光譜(V)]、電流-電壓特性曲線 (J-V曲線)、外量子效率-電流密度曲線 (EQE-J)。

 ● 軟件可以顯示的圖表包括:EL-EQE、多EL光譜、JVL曲線、Voc loss 直方圖。

 ● 該系統可以計算和分析熱力學Voc、輻射復合Voc和非輻射復合Voc。

 ● 波長檢測范圍:300~1100nm; 并且可以擴展(選配)。

 ● NIST可追溯的絕對輻射校準(瓦特,從300~1100納米)。

 ● EL-EQE檢測范圍:1 x 10-6% (8 orders)。

 ● EL-EQE重複性>99%。

 ● EL-EQE reproducibility >99%.

 ● Glove Box 整合工具包。

 ● 客制的測試夾具。



規格



REPS系統另有進階類型(REPS Pro),其規格比較如下


太陽能電池Voc損耗分析儀

應用



Enlitech REPS Voc損耗分析儀可用于

  改善OPV的Voc-loss

  改善鈣鈦礦 Voc-loss

 電荷傳輸狀態識別







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