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首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>半導體材料測試>>深能級瞬態譜測試

  • 深能級瞬態譜測試儀 參考價：面議

    深能級瞬態譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段，它可以測定各種深能級相關參數，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。
    型號： 廠商性質：生產商所在地：上海市 對比
    瞬態譜
    2025/5/7 12:38:21647
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