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首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>光譜系統>>半導體晶圓缺陷檢測儀

  • 半導體晶圓缺陷檢測儀 參考價：面議

    半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
    型號： 廠商性質：生產商所在地：上海市 對比
    晶圓缺陷檢測儀半導體晶圓缺陷晶圓半導體晶圓缺陷
    2025/5/7 10:30:067527
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