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金屬膜四探針方阻電阻率檢測儀l 直流電壓源：輸出電壓范圍 0~50V 分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續調節，分辨力為1µV，基本誤差為0.05%RD±0.02%FS。

金屬膜四探針方阻電阻率檢測儀參數1.方塊電阻范圍 10^-5～2×10^5Ω/□2.電阻率范圍 10^-6～2×10^6Ω-cm測試電流范圍 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA4.電流精度 ±0.1%5.電阻精度 ≤0.3%6.顯示讀數 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率7.測試方式 普通單電測量8.工作電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗 lt;30W

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，壓強 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。

標準要求：該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。