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武漢賽斯特精密儀器有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第6年

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  • 納米壓痕測(cè)試儀(Nanoindentor)

    納米壓痕測(cè)試儀(Nanoindentor) 主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量,可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/10/11 11:18:34 對(duì)比
    納米壓痕測(cè)試儀納米壓痕測(cè)試儀供應(yīng)納米壓痕測(cè)試儀價(jià)格納米壓痕測(cè)試壓痕測(cè)試儀
  • 晶圓檢測(cè)機(jī)

    晶圓檢測(cè)機(jī)采用非接觸檢測(cè)系統(tǒng),對(duì)晶圓的平面度、厚度、粗糙度等進(jìn)行檢測(cè)并分類,并完成晶圓標(biāo)記及數(shù)據(jù)處理。該設(shè)備產(chǎn)能:1片/分鐘。該設(shè)備主要包含:運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu):將晶圓放...

    型號(hào): HEP-MC800... 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/10/10 18:51:48 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)機(jī)價(jià)格晶圓檢測(cè)儀高精度晶圓測(cè)試儀晶圓缺陷檢測(cè)儀晶圓檢測(cè)儀價(jià)格
  • 高精度晶圓測(cè)試儀晶圓厚度測(cè)量?jī)x

    新型Sneox關(guān)光輪廓檢測(cè)儀在性能,功能、效率和設(shè)計(jì)方面優(yōu)于現(xiàn)有的3D光學(xué)輪廓儀,是新一代測(cè)量系統(tǒng)

    型號(hào): Sneox 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/1/5 15:51:17 對(duì)比
    高精度晶圓測(cè)試儀晶圓厚度測(cè)量?jī)x晶圓尺寸測(cè)量?jī)x晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)機(jī)
  • ITC57300 MOS管半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    ITC57300 MOS管半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀-3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,避免占用設(shè)...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/8/30 13:47:12 對(duì)比
    測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體檢測(cè)儀器設(shè)備動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
  • ITC57300分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    ITC57300分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)-3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,避免占用設(shè)備的掃...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/8/23 16:27:54 對(duì)比
    測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體檢測(cè)儀器設(shè)備動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
  • 半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀-3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,避免占用設(shè)備的掃描排程。

    型號(hào): ITC57300 ... 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/8/23 16:23:27 對(duì)比
    測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體檢測(cè)儀器設(shè)備動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
  • 半導(dǎo)體功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    半導(dǎo)體功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀-3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉。也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,避免占用設(shè)備的掃描排程。

    型號(hào): ITC57300 ... 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/8/23 16:11:30 對(duì)比
    測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體檢測(cè)儀器設(shè)備
  • 芯片推拉力剪切力測(cè)試儀

    芯片推拉力剪切力測(cè)試儀 是一種多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀,可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用。

    型號(hào): DAGE4000 ... 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    芯片拉力剪切力測(cè)試儀剪切力測(cè)試儀供應(yīng)剪切力測(cè)試儀價(jià)格
  • 原子力顯微鏡

    原子力顯微鏡 使用調(diào)頻模式,提高了信號(hào)的靈敏度,是一款可以在大氣環(huán)境下獲得與真空環(huán)境中同樣高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品,無(wú)論樣品種類(薄膜、晶體、半導(dǎo)體、有機(jī)材料...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    原子力顯微鏡原子力顯微鏡供應(yīng)原子力顯微鏡價(jià)格
  • 芯片推拉力剪切力測(cè)試儀

    芯片推拉力剪切力測(cè)試儀 是一種多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀,可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用。

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    芯片拉力剪切力測(cè)試儀剪切力測(cè)試儀供應(yīng)剪切力測(cè)試儀價(jià)格
  • 芯片拉力剪切力測(cè)試儀

    芯片拉力剪切力測(cè)試儀 擁有多項(xiàng)功能,應(yīng)用操作中可執(zhí)行芯片器件推拉力和剪切力的測(cè)試操作。DAGE焊接強(qiáng)度測(cè)試儀和DAGE X-ray產(chǎn)品系列,可以用于破壞性和非破...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    芯片拉力剪切力測(cè)試儀剪切力測(cè)試儀供應(yīng)剪切力測(cè)試儀價(jià)格
  • 雙面量測(cè)探針臺(tái)(上下點(diǎn)針?lè)绞剑?

    雙面量測(cè)探針臺(tái)(上下點(diǎn)針?lè)绞剑?龍門(mén)式移動(dòng)平臺(tái),與顯微鏡精微調(diào)裝置配合,設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,可操控范圍廣,放置樣品以及點(diǎn)針操作方便

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    雙面量測(cè)探針臺(tái)雙面量測(cè)探針臺(tái)供應(yīng)雙面量測(cè)探針臺(tái)價(jià)格
  • 掃描電鏡SEM

    掃描電鏡SEM 公司新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡,擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì),配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭,具有越...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    掃描電鏡SEM掃描電鏡SEM供應(yīng)掃描電鏡SEM價(jià)格
  • 美國(guó)MTI 晶圓幾何參數(shù)測(cè)試儀

    美國(guó)MTI 晶圓幾何參數(shù)測(cè)試儀 晶圓幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品覆蓋手動(dòng)型、半自動(dòng)型和全自動(dòng)型。

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    晶圓幾何參數(shù)測(cè)試儀幾何參數(shù)測(cè)試儀供應(yīng)幾何參數(shù)測(cè)試儀價(jià)格
  • 晶圓薄膜應(yīng)力測(cè)試儀

    晶圓薄膜應(yīng)力測(cè)試儀 樣品臺(tái)可通用于3至8寸晶圓,128L型號(hào)適用于12寸晶圓,128G 型號(hào)適用于470 X 370mm樣品,另可按要求訂做;

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    晶圓薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀供應(yīng)薄膜應(yīng)力測(cè)試儀價(jià)格
  • 氦質(zhì)譜檢漏儀

    氦質(zhì)譜檢漏儀 是我公司針對(duì)端客戶群開(kāi)發(fā)的一款便攜式檢漏儀,檢測(cè)精度高、操作便捷、性能穩(wěn)定,具有較高的靈敏度和快速的反應(yīng)時(shí)間。該設(shè)備設(shè)計(jì)緊湊,占用空間小,方便攜帶...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    氦質(zhì)譜檢漏儀氦質(zhì)譜檢漏儀供應(yīng)氦質(zhì)譜檢漏儀價(jià)格
  • 非接觸影像測(cè)量?jī)x

    非接觸影像測(cè)量?jī)x 影像測(cè)量?jī)x是我們常見(jiàn)的檢測(cè)儀器。億輝光電所制造的影像測(cè)量?jī)x采用了非接觸的沒(méi)量方式,已成為了精密制造工業(yè)在質(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié)上為重要的精密測(cè)量?jī)x器之一...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    非接觸影像測(cè)量?jī)x非接觸影像測(cè)量?jī)x供應(yīng)非接觸影像測(cè)量?jī)x價(jià)格
  • X光檢測(cè)系統(tǒng)

    X光檢測(cè)系統(tǒng) 是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    X光檢測(cè)系統(tǒng)X光檢測(cè)系統(tǒng)供應(yīng)X光檢測(cè)系統(tǒng)價(jià)格
  • PIND顆粒噪聲測(cè)試儀

    PIND顆粒噪聲測(cè)試儀 工作原理:顆粒碰撞噪聲檢測(cè)(Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.)是一種對(duì)多余物檢驗(yàn)的有效手...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    PIND顆粒噪聲測(cè)試儀顆粒噪聲測(cè)試儀供應(yīng)顆粒噪聲測(cè)試儀價(jià)格
  • 3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

    3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng) VMR可模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,規(guī)劃智能教導(dǎo)掃描路徑,避免碰撞擊干涉· 也可進(jìn)行離線編成設(shè)計(jì)路徑,避免占用設(shè)備的掃描排程· 其任何檢...

    型號(hào): 所在地:武漢市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/6/22 15:34:34 對(duì)比
    3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)供應(yīng)3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)價(jià)格

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