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日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹
2022-2-18 閱讀(1247)
日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹
離線式測厚儀是臺式緊湊型測厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測量。由于測量是在自動運輸的同時進行的,因此任何人都可以輕松快速地進行測量,并且不受測量者技能的影響是一大特點。
常用于質量控制部門和研發應用。此外,由于測量的圖形可以以環形顯示,因此經常用于充氣膜的制造現場。
型號:TOF-4R05
測量方法
線規/夾取法
測量對象:薄膜、片材
測量厚度:0.03 至 3 毫米
型號:TOF-5R01
測量方法
線性規
測量對象:膠片/膠卷
測量厚度:0.02-0.2毫米
型號:TOF-6R001
測量方法
線性規
測量對象:薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等)
測量厚度:5-100微米
型號:TOF-C2 * TOF-C 的后續型號
測量方法
非接觸式
電容式
測量對象:薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜
測量厚度:~ 500 微米
型號:TOF-S
測量方法
非接觸式
光譜干涉儀
測量對象:電子、光學用透明平滑膜、多層膜
測量厚度:1 至 50 μm(用于薄材料)
10 至 150 μm(用于厚材料)
型號:TOF-M
測量方法
線性規
測量對象:鋼板或鋁板等金屬板
測量厚度:0.1-0.5毫米