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日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹

2022-2-18  閱讀(1247)

日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹

離線式測厚儀是臺式緊湊型測厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測量。由于測量是在自動運輸的同時進行的,因此任何人都可以輕松快速地進行測量,并且不受測量者技能的影響是一大特點。
常用于質量控制部門和研發應用。此外,由于測量的圖形可以以環形顯示,因此經常用于充氣膜的制造現場。

型號:TOF-4R05

測量方法

線規/夾取法

測量對象:薄膜、片材

測量厚度:0.03 至 3 毫米

型號:TOF-5R01

測量方法

線性規

測量對象:膠片/膠卷

測量厚度:0.02-0.2毫米

型號:TOF-6R001

測量方法

線性規

測量對象:薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等)

測量厚度:5-100微米

型號:TOF-C2 * TOF-C 的后續型號

測量方法

非接觸式
電容式

測量對象:薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜

測量厚度:~ 500 微米

型號:TOF-S

測量方法

非接觸式
光譜干涉儀

測量對象:電子、光學用透明平滑膜、多層膜

測量厚度:1 至 50 μm(用于薄材料)
10 至 150 μm(用于厚材料)    

型號:TOF-M

測量方法

線性規

測量對象:鋼板或鋁板等金屬板

測量厚度:0.1-0.5毫米






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