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目錄:優(yōu)尼康科技有限公司>>薄膜厚度測量>>Filmetrics膜厚測量儀>> F50Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀自動化MAPPING

Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀自動化MAPPING
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 KLA-Tencor
  • 型號 F50
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海
屬性

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更新時(shí)間:2025-06-24 14:25:46瀏覽次數(shù):5364評價(jià)

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 波長范圍 190nm-1340nm
光源 鎢鹵素?zé)簟㈦疅?/td> 厚度測量范圍 5nm-2mm
測量精度 0.02nm 光斑大小 標(biāo)準(zhǔn)1.5毫米
樣品臺尺寸 1-300mm
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng),可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺,可以快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀




Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產(chǎn)品介紹:

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng),可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺,可以快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產(chǎn)品優(yōu)勢:

  • 自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實(shí)時(shí)獲得結(jié)果;

  • 可測樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;

  • 測繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn),方便用戶從不同的角度檢視;



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量原理:

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會有部分的光被反射,由于光的波動性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀常見工業(yè)應(yīng)用:

半導(dǎo)體膜層

顯示技術(shù)

消費(fèi)電子

派瑞林

光刻膠

OLED

防水涂層

電子產(chǎn)品/電路板

介電層

ITO和TCOs

射頻識別

磁性材料

砷化鎵

空氣盒厚

太陽能電池

醫(yī)學(xué)器械

微機(jī)電系統(tǒng)

PVD和CVD

鋁制外殼陽極膜

硅橡膠



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產(chǎn)品參數(shù):

波長范圍:

190nm-1340nm

光源:

鎢鹵素?zé)簟㈦疅?/span>

厚度測量范圍:

5nm-2mm

測量精度:

0.02nm

光斑大小:

標(biāo)準(zhǔn)1.5毫米

樣品臺尺寸:

1-300mm

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Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量圖:



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