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詳細摘要： 桌上型主動式隔振臺特點：*TS 的隔震性能在0.7-100Hz 范圍提供6自由度3軸的主動隔震。*自動高度調節讓儀器擺放隨心所欲.*水平自動調節功能即使負載重心...

詳細摘要： 桌上型主動式減震臺*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設計-封閉式鋁制機身與臺面...

詳細摘要： 主動式減震系統*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設計-封閉式鋁制機身與臺面，避...

詳細摘要： 一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統，可以用主動隔振系統消除共振。 KURASHIKI 通過在發展主動防震系統的同時補充了被動系統，主動防震系統...

詳細摘要： mini 桌上型主動式隔振臺新設計，易使用

詳細摘要： Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細摘要： Filmetircs 光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達4...

詳細摘要： Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot™技術，可同時采集高分辨率3D數據和Tr...

詳細摘要： P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需...

詳細摘要： P-170臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹...

詳細摘要： Nanosurf 真空環境用原子力顯微鏡AFM產品主要特點:實時在您的真空環境中進行AFM分析方便集成在SEM中進行相關AFM分析兼容于大多數電鏡而不影響SEM...

詳細摘要： NanosurfAFM原子力顯微鏡產品主要特點:高起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度智能軟件自主處理測量需求...

詳細摘要： AVI 400MLP 主動式防振系統 隔震臺防震臺，主動式防振系統（ AVI）能夠為科研、工程和生產過程所需要的精密儀器提供一 個穩定的測量環境。。。。

詳細摘要： Unicorn α200 系列低頻消磁系統（EMI Canceling System，又稱消磁器）， 是我公司在 SL 2012 系列 基礎上研發的新產品， 采...

詳細摘要： Filmetrics膜厚測量儀:F10-AR 是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的儀器。 雖然價格大大低于當今絕大多數同類儀器，應用幾項技術， F10-A...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀：以F20平臺為基礎所發展的F10-HC薄膜測量系統，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀：以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統價格的一小部分，用戶就能進行低/高分析、確定...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀 F60-t 系列就像我們的 F50產品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產環境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、...

詳細摘要： -Filmetrics光學薄膜厚度測量儀：依靠F50的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以非...