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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率測定儀

時間:2010/12/13閱讀:606
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便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率測定儀 型號:KDK-KDY-1A

概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規定。
它主要由電器測量份(主機)及四探頭組成,需要時可加配測試架。
為減小體積,本儀器用同塊數字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供,隨時可行校準,以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產品檢測。對1~100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不過±3%,在此范圍內達到家標準機的水平。
測量范圍:
可測量 電阻率:0.01~199.9Ω•cm。
可測方塊電阻:0.1~1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。
(2)恒源:
輸出電:DC 0.1mA~10mA分兩檔
10mA量程:0.1~1mA 連續可調
10mA量程:1mA ~10mA連續可調
恒度:各檔均優于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
(3) 直數字電壓表
測量范圍:0~199.9mv
靈敏度:100μv
準確度:0.2%(±2個字)
(4) 供電電源:
AC:220V ±10% 50/60HZ 率8W
(5) 使用環境:
相對濕度≤80%
(6) 重量、體積
重量:2.2 公斤
體積:寬210×100×深240(mm)
(7)KD探針頭
壓痕直徑:30/50μm
間距:1.00mm
探針合力:8±1N
針材:TC

 

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