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UT528 安規(guī)測試儀PX 0
UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測量系統(tǒng)PX 7097
UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7097
Orzew FC20/FC20X全自動晶圓關(guān)鍵尺寸檢測及分選機PX 7097
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 7097
QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀PX 7097
iFocus晶圓檢測系統(tǒng)PX 7097
FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 7097
FR-ES精簡薄膜厚度測量儀PX 7097
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置PX 7097
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置PX 7097
CI8化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置PX 7097
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7097
LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7097
FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 7097
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)PX 7097
FSM413紅外激光測厚儀PX 7097
StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀PX 7097
實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀PX 7097
拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀PX 7097
晶圓翹曲應(yīng)力測量儀PX 2045
K039 / K050 / K075 / K100日本kita電路板接觸式高負荷彈簧探針PX 5037
KT系列日本kita電路板接觸式旋轉(zhuǎn)彈簧探針PX 5037
日本kita電路板接觸式高電流彈簧探針PX 5037
日本kita半導(dǎo)體接觸式高頻彈簧探針PX 5037
日本kita半導(dǎo)體接觸式大電流彈簧探針PX 5037
日本kita半導(dǎo)體接觸式非磁性彈簧探針PX 5037
4端子連接日本kita半導(dǎo)體接觸式開爾文彈簧探針PX 5037
0.15?0.25mm間距日本kita半導(dǎo)體接觸式窄間距彈簧探針PX 5037
0.3-1.0 mm間距日本kita半導(dǎo)體接觸式彈簧探針PX 5037
FPTOH-TOHOSPEC3100進口光學(xué)薄膜測厚儀PX 3327
FPESS-Photon RT光學(xué)鍍膜檢測儀PX 3327
FPTHE-FR-Thermal聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀PX 3327
FRANG-SR500進口光學(xué)膜厚儀PX 3327
NH-3SPs高精度點自動對焦3D測量機PX 0
NH-3Ns光點自動對焦3D形狀高精度測量機PX 0
MLP-3自動對焦3D形狀高精度測量機PX 0
PF-60點自動對焦表面形狀高精度測量機PX 0
內(nèi)應(yīng)力檢測儀PX 2045
FRANG-SR500光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀PX 3327
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng)
晶圓光學(xué)檢測鑷MEISTER-00C
美國 Logosol 晶圓預(yù)對準器
美國 Logosol 嵌入式預(yù)對準器 晶圓處理
美國 Logosol 預(yù)對準器 巡邊臺 晶圓處理
美國 Logosol 分布式控制網(wǎng)絡(luò)控制器 晶圓
美國 Logosol LPA系列預(yù)對準器 晶圓處理
晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng)
晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
INTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓異物照明檢查燈
MALCOM馬康 探針測試儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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