KLA Candela® 8720表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)采用專有的光學(xué)技術(shù)，可同時(shí)測(cè)量?jī)蓚€(gè)入射角的散射強(qiáng)度。它可以捕捉到形貌變化、表面反射率、相位變化和光致發(fā)光，從而對(duì)各種關(guān)鍵缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)與分類。應(yīng)用包括射頻、功率和高亮度LED的氮化鎵檢測(cè)，能夠檢測(cè)裂紋、晶體位錯(cuò)、小丘、微坑、滑移線、凸點(diǎn)和六角凸點(diǎn)以及外延缺陷。KLA Candela® 8720表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)還可用于其他化合物半導(dǎo)體工藝材料的缺陷檢測(cè)，例如用于LED、垂直腔面發(fā)射激光器和光子學(xué)應(yīng)用的砷化鎵和磷化銦。

功能

• 對(duì)直徑達(dá)200毫米的化合物半導(dǎo)體材料進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

• 支持各種晶圓厚度

• 適用于宏觀和微觀缺陷，如裂紋、多量子阱擾動(dòng)、微粒、劃痕、凹坑、凸起和沾污缺陷

應(yīng)用案例

• 襯底質(zhì)量控制

• 襯底供應(yīng)商對(duì)比

• 入廠晶圓質(zhì)量控制(IQC)

• 出廠晶圓質(zhì)量控制(OQC)

• CMP（化學(xué)機(jī)械拋光工藝）/拋光工藝控制

• 晶圓清洗工藝控制

• 外延工藝控制

• 襯底與外延缺陷關(guān)聯(lián)

• 外延反應(yīng)器供應(yīng)商的對(duì)比

• 工藝機(jī)臺(tái)監(jiān)控

行業(yè)

• 高亮度LED、微型LED包括AR|VR

• 氮化鎵的射頻和氮化鎵的功率應(yīng)用

• 通信（5G、激光雷達(dá)、傳感器）

• 其他化合物半導(dǎo)體器件

選項(xiàng)

• SECS-GEM

• 信號(hào)燈塔

• 金剛石劃線

• 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

• 離線軟件

• 光學(xué)字符識(shí)別(OCR)

• 光致發(fā)光