資料簡介
樣品準備:選取光譜分析儀、電子顯微鏡、高精度天平、激光測距儀等典型精密儀器,檢查儀器外觀及初始性能,記錄校準數據與測量參數。
低溫測試:將快速溫變箱溫度降至 -20℃,穩(wěn)定 1 小時后,使用標準樣品對儀器進行測量,對比初始數據,分析低溫環(huán)境下儀器的零點漂移、靈敏度變化等問題。
高溫測試:升溫至 80℃,保持 1 小時,再次進行測量,觀察儀器是否出現部件變形、電路性能下降、測量精度降低等現象。
快速溫變循環(huán)測試:設定溫度在 -20℃與 80℃間循環(huán),每次溫變間隔 20 分鐘,循環(huán) 10 次。測試過程中持續(xù)監(jiān)測儀器運行狀態(tài)與測量數據,記錄異常情況。
四、測試結果與分析
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