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QSense 耗散型石英晶體微天平分析儀A4單頁

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    pdf
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    4MB
  • 瀏覽次數

    75次
  • 上傳時間

    2025年05月23日
關鍵詞
石英晶體微天平,QSense ,耗散型石英晶體微天平,QCM-D,QCM
上傳者
瑞典百歐林科技有限公司
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資料簡介

越來越多發表的科學文獻證明了QSense®技術的可靠性。


該技術的核心是石英晶體在負載電壓下以一個特定頻率振蕩。當晶體表面上的質量發生改變時,晶體的振蕩共振頻率也會隨之變化。通過這種方法,可以在納克級靈敏度上測定界面質量和結構變化。該方法可實時、無需標記地測量任何可形成薄膜的材料表面。


QSense®可以測量質量變化,還可以同時測量耗散因子,從而提供薄膜的結構和粘彈性信息。它可以提供諸如吸附膜的分子厚度、結構、含水量等信息。此外還可以檢測反應前、進行中和結束后的表面吸附層的變化。 

金屬、聚合物、化學改性表面,只要能在芯片表面上鋪展成薄膜的材料,都可以成為我們的定制芯片涂層。


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