使用礦相偏光顯微鏡觀察巖石玻片,需結合礦物光學性質與地質成因,通過單偏光、正交偏光及反光模式解析巖石礦物組成、結構及演化。以下為系統化操作指南與分析要點:
偏光正交驗證:插入上偏光鏡,旋轉至全暗視場(偏差<2°),確保起偏器(下)與檢偏器(上)振動方向嚴格垂直(十字絲對齊)。
物鏡應力檢測:觀察標準石英楔(一級紅),無應力物鏡干涉色均勻,避免雙折射干擾(如 10× 物鏡應力等級≤Ⅰ 級)。
載物臺中心校正:用十字絲交點追蹤礦物顆粒,旋轉載物臺(0-360°),顆粒不偏離中心(誤差<5μm),確保消光角測量準確。
核心觀察:形態、顏色、突起、解理
晶體形態
顏色與多色性
突起與糙面
解理分級
解理(云母,裂成薄片);
中等解理(角閃石,兩組夾角 56°/124°);
無解理(石榴子石,不規則裂紋)。
核心觀察:干涉色、消光、雙晶、延性
干涉色級序判定
消光類型
雙晶與環帶
延性符號
核心觀察:反射率、反射色、內反射
反射率分級
高反射率(黃鐵礦,亮白色);
中反射率(磁鐵礦,灰色);
低反射率(石墨,深灰色)。
反射色差異
黃鐵礦(淺黃)vs 磁黃鐵礦(古銅色);
斑銅礦(藍紫錆色)→氧化程度指示。
內反射
透明 - 半透明礦物(如赤鐵礦,櫻紅色內反射);
不透明礦物無內反射(如黃鐵礦,全反射)。
單偏光:綠輝石(淺綠)+ 石榴子石(無色,正高突起);
正交偏光:綠輝石呈二級藍干涉色,四次消光;石榴子石全消光;
成因:高壓變質(石榴子石穩定于>1.5GPa),綠輝石環帶記錄俯沖 - 折返溫壓變化。
薄片清潔:酒精擦拭避免指紋油漬,防止假干涉色(如油漬呈彩虹色)。
溫濕度控制:高倍鏡(>40×)需恒溫載物臺(25℃±1℃),避免熱脹導致焦距偏移。
聯用法則:偏光特征 + 電子探針(成分)+XRD(晶型),如鋯石干涉色(高級白)結合 U-Pb 定年,反演巖石形成時代。
動態觀察:配置加熱臺(0-600℃),模擬變質脫水過程,記錄礦物相變(如黑云母→白云母 + 石英)。
礦物 | 單偏光特征 | 正交偏光特征 | 典型干涉色 | 地質意義 |
---|
橄欖石 | 無色,正高突起,裂紋發育 | 一級灰 - 黃,平行消光 | 一級黃 | 超基性巖,指示幔源 |
斜長石 | 板狀,聚片雙晶 | 環帶結構,斜消光(20°-40°) | 一級白 - 二級藍 | 巖漿巖 / 變質巖,溫壓指示 |
角閃石 | 長柱狀,多色性(綠→黃) | 二級藍 - 三級紅,斜消光 | 二級藍 | 中高壓變質,含水體系 |
石英 | 他形粒狀,無解理 | 波狀消光,一級灰 | 一級灰 | 硅質巖 / 花崗巖,低溫標志 |
石榴子石 | 正六邊形,無解理 | 全消光 | 無 | 高壓變質,俯沖帶指示 |
通過礦相偏光顯微鏡的多模式觀察,不僅能實現礦物定性定量,更可通過光學特征反演巖石成因(如巖漿結晶、變質演化、流體交代),是巖石學研究的核心技術手段。建議結合《系統礦物學》光性數據手冊,建立礦物 - 光性 - 成因的關聯分析思維。