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礦相偏光顯微鏡觀察巖石玻片

來源:北京長恒榮創科技有限公司   2025年06月25日 09:57  
使用礦相偏光顯微鏡觀察巖石玻片,需結合礦物光學性質與地質成因,通過單偏光、正交偏光及反光模式解析巖石礦物組成、結構及演化。以下為系統化操作指南與分析要點:


一、巖石玻片制備與顯微鏡校準

1. 標準薄片制備(0.03mm 厚度)

  • 切割 - 磨制 - 粘片:巖石塊→單面磨平→環氧樹脂粘于載玻片→雙面精磨至透光(長石透光率>80%)→蓋玻片封片(避免氣泡)。

  • 特殊處理:含易溶礦物(如方解石)需酒精脫水;含不透明礦物(如黃鐵礦)需反光面拋光(厚度≤0.05mm)。

2. 顯微鏡光路校準

  • 偏光正交驗證:插入上偏光鏡,旋轉至全暗視場(偏差<2°),確保起偏器(下)與檢偏器(上)振動方向嚴格垂直(十字絲對齊)。

  • 物鏡應力檢測:觀察標準石英楔(一級紅),無應力物鏡干涉色均勻,避免雙折射干擾(如 10× 物鏡應力等級≤Ⅰ 級)。

  • 載物臺中心校正:用十字絲交點追蹤礦物顆粒,旋轉載物臺(0-360°),顆粒不偏離中心(誤差<5μm),確保消光角測量準確。


二、分模式觀察與礦物解析

單偏光模式(下偏光)

核心觀察:形態、顏色、突起、解理


  1. 晶體形態
    • 自形晶(如橄欖石菱形截面)→巖漿緩慢結晶;

    • 半自形晶(如斜長石板狀)→結晶條件復雜;

    • 他形晶(如石英粒狀)→晚期充填或交代成因。
      案例:純橄巖中橄欖石呈全自形粒狀,邊界平直,指示超基性巖原生結晶。

  2. 顏色與多色性
    • 均質體(石榴子石):無色 / 均一顏色,旋轉載物臺不變色;

    • 非均質體(角閃石):旋轉 90° 顏色顯著變化(如深綠→淺黃),記錄 * 大吸收方向(如角閃石 Ng = 深綠,Np = 淺黃)。
      技巧:對比單偏光下榍石(橙紅)與輝石(無色),快速區分含鈦礦物。

  3. 突起與糙面
    • 正突起(橄欖石,折射率>1.66):邊緣亮線內移(貝克線向礦物方向);

    • 負突起(石英,折射率 1.54):貝克線外移;

    • 糙面粗糙度→折射率差(如石榴子石糙面光滑,輝石糙面明顯)。

  4. 解理分級
    • 解理(云母,裂成薄片);

    • 中等解理(角閃石,兩組夾角 56°/124°);

    • 無解理(石榴子石,不規則裂紋)。

正交偏光模式(上下偏光正交)

核心觀察:干涉色、消光、雙晶、延性


  1. 干涉色級序判定
    • 一級灰(石英)→二級藍(普通角閃石)→三級紅(藍晶石)→高級白(鋯石);

    • 插入石膏試板(λ=550nm):一級紅 + 試板 = 二級藍(同名相加),用于定量雙折射率(ΔN = 干涉色級序 ×0.03)。
      案例:矽線巖中矽線石呈二級黃干涉色,指示變質程度(中級角閃巖相)。

  2. 消光類型
    • 平行消光(輝石,解理紋與十字絲平行);

    • 斜消光(斜長石,測量消光角 Ng∧(010),如中長石 25°-35°);

    • 對稱消光(云母,解理縫與十字絲對稱)。
      注意:均質體(石榴子石)全消光,旋轉載物臺始終黑暗。

  3. 雙晶與環帶
    • 聚片雙晶(斜長石,細密平行紋);

    • 卡式雙晶(鉀長石,“箭頭狀” 接觸);

    • 環帶結構(斜長石,中心到邊緣成分漸變,如 An30→An50)。
      應用:通過環帶韻律反演巖漿結晶歷史(如基性→中性→酸性的多次脈動)。

  4. 延性符號
    • 正延性(針狀角閃石,長軸 = Ng);

    • 負延性(柱狀磷灰石,長軸 = Np);
      操作:45° 位插入石膏試板,干涉色升高方向為快光軸(Np)。

反光模式(針對不透明礦物)

核心觀察:反射率、反射色、內反射


  1. 反射率分級

    • 高反射率(黃鐵礦,亮白色);

    • 中反射率(磁鐵礦,灰色);

    • 低反射率(石墨,深灰色)。

  2. 反射色差異

    • 黃鐵礦(淺黃)vs 磁黃鐵礦(古銅色);

    • 斑銅礦(藍紫錆色)→氧化程度指示。

  3. 內反射

    • 透明 - 半透明礦物(如赤鐵礦,櫻紅色內反射);

    • 不透明礦物無內反射(如黃鐵礦,全反射)。


三、巖石成因解析實例

案例 1:榴輝巖薄片

  • 單偏光:綠輝石(淺綠)+ 石榴子石(無色,正高突起);

  • 正交偏光:綠輝石呈二級藍干涉色,四次消光;石榴子石全消光;

  • 成因:高壓變質(石榴子石穩定于>1.5GPa),綠輝石環帶記錄俯沖 - 折返溫壓變化。

案例 2:花崗巖中的斜長石

  • 單偏光:半自形板狀,聚片雙晶;

  • 正交偏光:環帶結構(中心 An35→邊緣 An20),消光角漸變;

  • 成因:巖漿結晶分異,邊緣更酸性成分指示晚期流體交代。

案例 3:變質巖中的紅柱石

  • 單偏光:近正方形截面,十字形炭質包裹體(空晶石);

  • 正交偏光:一級灰干涉色(低雙折射率),平行消光;

  • 成因:低壓高溫變質(紅柱石穩定于<0.4GPa),指示接觸變質帶。


四、操作注意事項與進階技巧

  1. 薄片清潔:酒精擦拭避免指紋油漬,防止假干涉色(如油漬呈彩虹色)。

  2. 溫濕度控制:高倍鏡(>40×)需恒溫載物臺(25℃±1℃),避免熱脹導致焦距偏移。

  3. 聯用法則:偏光特征 + 電子探針(成分)+XRD(晶型),如鋯石干涉色(高級白)結合 U-Pb 定年,反演巖石形成時代。

  4. 動態觀察:配置加熱臺(0-600℃),模擬變質脫水過程,記錄礦物相變(如黑云母→白云母 + 石英)。


五、常見礦物快速鑒別表

礦物單偏光特征正交偏光特征典型干涉色地質意義
橄欖石無色,正高突起,裂紋發育一級灰 - 黃,平行消光一級黃超基性巖,指示幔源
斜長石板狀,聚片雙晶環帶結構,斜消光(20°-40°)一級白 - 二級藍巖漿巖 / 變質巖,溫壓指示
角閃石長柱狀,多色性(綠→黃)二級藍 - 三級紅,斜消光二級藍中高壓變質,含水體系
石英他形粒狀,無解理波狀消光,一級灰一級灰硅質巖 / 花崗巖,低溫標志
石榴子石正六邊形,無解理全消光高壓變質,俯沖帶指示


通過礦相偏光顯微鏡的多模式觀察,不僅能實現礦物定性定量,更可通過光學特征反演巖石成因(如巖漿結晶、變質演化、流體交代),是巖石學研究的核心技術手段。建議結合《系統礦物學》光性數據手冊,建立礦物 - 光性 - 成因的關聯分析思維。


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