瞬態光電導壽命測試儀用于多晶硅、硅單晶生產及高校和科研等。用于多晶硅和單晶硅的控制及實驗室科研。儀器采用高頻光電導法,樣品表面切割研磨面進行測量,壽命儀的放大倍數是可變的。當出現超過5V的光電導電壓后,可將放大倍數減為10倍。
產品特點:
1.放大器放大倍數可調,可放大2倍、10倍、30倍。
2.光強電壓、脈沖寬度由軟件測試系統界面設定。
3.光強電壓可按設定的步距自動增加,并同時顯示光強增加后壽命值的變化。
4.可自動計算出不同光源電壓下的光脈沖對樣品產生的注入比。
規格參數:
適合范圍:測量多晶硅檢驗棒、單晶切斷后的段料及頭尾料;
硅單晶電阻率ρ的測量范圍:5-104Ω•cm;
紅外發光二極管波長:1.06µm;
脈寬范圍:120µs;
光源電壓:1.2-5V(可在界面上設定光源電壓或設置自動調節)。
型號:GDW3-LT1000
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