天恒科儀真空高低溫探針臺通過模塊化設計，整合真空系統、溫控模塊與探針定位系統

為科研與工業測試材料與器件在溫度（-193℃至+400℃）和真空環境（10?3 mbar）下的性能測試至關重要。提供可靠的環境控制與數據采集支持。

核心技術亮點

寬溫域與真空環境

溫控范圍：-193℃（液氮制冷）至+400℃（電阻加熱），覆蓋超導、半導體、高溫器件的全溫區測試需求。

真空度：10?3 mbar，有效隔絕水氧干擾，確保實驗環境純凈。

協同優勢：溫控模塊與真空系統聯動，支持溫度下的真空或惰性氣體環境測試。

探針定位與信號采集

定位精度：XYZ三軸微調行程12mm×12mm×12mm，定位精度1.4μm（重復定位誤差±0.5μm）。

信號保真：三同軸探針夾具漏電流<100fA（25℃），結合高純度鎢探針（耐溫-200℃至+450℃），保障微弱信號的無損采集。

模塊化與擴展兼容性

靈活配置：支持4組探針座同時工作，可擴展探針數量及夾具類型（如高頻探針、微波探針）。

外接接口：預留電氣接口與快擰接頭，兼容光譜儀、鎖相放大器等外部設備，滿足光電同步測試需求。

安全性與操作穩定性

液氮安全設計：定制防泄漏管路與液氮流量控制器，避免低溫操作風險。

溫控穩定性：PID算法控制，溫度波動±0.5℃，升降溫速率≤5℃/min（液氮模式）。

細配置參數

真空腔體系統：

腔體尺寸：400mm（長）×400mm（寬）×100mm（高），內部容積16L。

功能組件：

方形石英視窗（φ30mm）：支持光學觀測與光電同步測試。

快擰接口×4：用于連接真空泵、充氣閥及外部設備。

溫度控制系統;

控溫精度：

溫度均勻性±1℃（樣品臺表面），配備20L液氮杜瓦瓶與防結霜管路。

探針定位與信號采集系統:

樣品固定：

25mm×25mm防滑樣品臺，適配氧化鋁陶瓷絕緣片，采用彈片壓持固定。

典型應用場景

半導體器件測試

電學性能分析：在寬溫域（-193℃至+400℃）下測量晶體管IV特性、電容-電壓（CV）曲線。

可靠性驗證：高溫環境（如+400℃）中評估功率器件的長期穩定性。

超導材料研究

臨界溫度測定：在液氮溫區（-196℃）監測超導材料的電阻突變行為。

量子器件表征：真空環境下測試約瑟夫森結的量子相干性，減少環境干擾。

光電器件測試

高溫光電響應：分析LED、激光器在高溫環境下的發光效率衰減特性。

真空光電同步測試：通過石英視窗實現光電流與電信號的同步采集。

新能源材料研究

電極材料膨脹率測試：鋰離子電池電極在高溫（300℃）下的形變與阻抗分析。

催化劑活性研究：燃料電池催化劑在低溫真空環境中的反應動力學測量。

設備選型與技術服務

定制化配置：可根據需求調整探針數量、溫控范圍及真空度等級。

技術支持：提供設備安裝、操作培訓及定期維護服務。