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首頁 >> 技術文章 >> 掃描電子顯微技術SEM應用原理
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掃描電子顯微技術SEM
分析原理：用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象
譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等
提供的信息：斷口形貌、表面顯微結構、薄膜內部的顯微結構、微區元素分析與定量元素分析等
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