電感耦合高頻等離子體ICP工作原理
分析原理：利用氬等離子體產生的高溫使用試樣*分解形成激發態的原子和離子，由于激發態的原子和離子不穩定，外層電子會從激發態向低的能級躍遷，因此發射出特征的譜線。通過光柵等分光后，利用檢測器檢測特定波長的強度，光的強度與待測元素濃度成正比。
X射線衍射XRD
分析原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產生大強度的光束稱為X射線的衍射線。
納米顆粒追蹤表征
分析原理：納米顆粒追蹤分析技術， 利用光散射原理，不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一樣，依此來確定粒徑尺寸; 合適濃度的樣品均質分散在液體中可以得出粒徑尺寸分布和顆粒濃度信息， 準確度非常高。
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