XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀,可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器,配備雙準直器,內(nèi)置Intel 十核CPU工控電腦,支持Smart FP算法,創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路,其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等,檢測速度快,測試穩(wěn)定性好、準確性高,性價比高。