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高分辨 ICP-OES 助力分析釹鐵硼永磁材料

閱讀:417      發布時間:2025-06-19
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高分辨 ICP-OES 助力分析釹鐵硼永磁材料。為了能精準實施出口管制,釹鐵硼磁鐵中的相關稀土元素測試變得尤為重要。目前釹鐵硼中稀土及其他元素的檢 測標準有《XB/T 617.2-2014 釹鐵硼合金化學分析方法 第 2 部分:十五個稀土元素量的測定》,《釹鐵硼合金化學分析 方法第 3 部分:硼、鋁、銅、鈷、鎂、硅、鈣、釩、鉻、錳、鎳、鋅和鎵量的測定》。第一法為電感耦合等離子體發生 光譜法(ICP-OES)。 但由于稀土元素的原子具有未充滿的 4f 電子層和 4f 電子被外層的 5s5p 電子屏蔽的特性,使得稀土原子 具有有豐富的電子能級和長壽命激發態,能級躍遷通道多達 20 余萬個,可以產生多種多樣的輻射吸收和發射, 有著極為豐富的光譜譜線。同時釹鐵硼中另一個主要組分鐵元素的譜線也是非常豐富的。ICP 測試時的譜線干 擾十分嚴重。如 Sm 靈敏線 359.260nm 同時受到 Nd359.259nm Fe359.267nm 的干擾,無法用于分析。 下圖為氧化釹的部分發射譜線及釹鐵硼樣品的部分發射譜線圖。可以看到樣品基體的光譜譜線極為豐富,如連 綿不絕的群山,給分析帶來極大的干擾。

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