Sensofar三維共聚焦干涉顯微鏡S neox是一款綜合性多功能三維形貌測量儀器，可以滿足用戶對三維表面測量的復雜要求——在多重聚焦模式下，可實現極為粗糙表面的三維測量，適用于毫米級粗糙表面的三維測量；在共聚焦模式下，橫向分辨率高達140nm，可觀察超越常規光學顯微鏡分辨率極限的細密組織，適用于微米級粗糙表面的三維測量；干涉測量模式下，可在低倍和高倍下，同時實現高達0.1nm的高精度縱向分辨率，適用于亞微米及納米級粗糙表面的三維測量；一機多用，可最大限度發揮產品的性能，節省時間和投資成本。
Sensofar三維共聚焦干涉顯微鏡S neox實際應用范圍非常廣，可廣泛適用于汽車零部件、微電子、太陽能電池、印刷、航空、光學鏡片、公安刑偵、激光加工、摩擦學、材料性能測試、考古、醫療器械、地質、紙張等諸多領域，簡單分享幾個實測案例如下：
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