產品簡介
X射線熒光鍍層厚度測量儀FT110A
1. 通過自動定位功能提高操作性
測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
2. 微區膜厚測量精度提高
通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達5層的多鍍層測量
1. 通過自動定位功能提高操作性
測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
2. 微區膜厚測量精度提高
通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達5層的多鍍層測量