X熒光光譜儀XRF 是一種用于元素分析的儀器，可以檢測樣品中的元素種類和含量。
一、技術原理
X熒光光譜儀XRF 基于X射線熒光的原理。當樣品受到高能X射線照射時，樣品中的原子會被激發并發射出二次X射線，這種現象稱為X射線熒光。每種元素的原子都有熒光發射譜線，因此可以通過測量這些譜線的強度來確定樣品中元素的種類和含量。
二、工作流程
1.樣品準備：將樣品置于樣品臺上，確保樣品表面平整并與探測器相對。
2.激發源產生：光譜儀中的X射線管產生高能X射線，照射到樣品上。
3.熒光發射：樣品中的原子吸收X射線能量后，被激發到高能級。當原子退回到低能級時，會發射出具有特定波長的熒光X射線。
4.信號檢測：探測器接收樣品發射的熒光X射線，將其轉換為電信號。
5.數據處理：將探測器收集到的電信號進行放大、數模轉換等處理，得到樣品中各元素的強度數據。
6.結果分析：根據各元素的熒光強度，通過預先建立的標準曲線或校準模型，計算出樣品中各元素的含量。
三、特點
1.分析速度快：可以在幾分鐘內同時分析樣品中的多種元素。
2.分析范圍廣：可以分析從Na到U的大部分元素。
3.靈敏度高：可以檢測到ppm級的元素含量。
4.非破壞性：對樣品無損傷，適合于珍貴文物、藝術品等樣品的分析。
X熒光光譜儀XRF 是一種重要的元素分析儀器，它基于X射線熒光的原理，通過一系列工作流程，可以快速、地分析樣品中的元素種類和含量。
