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在手持式光譜儀的測量過程中，實際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統稱為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的(這個變化一是指元素的 變化，二是指含量的變化)，它直接影響待測元素特征X射線強度的測量。換句話說，待測元素含量相同，由于其基體成份不同，測量到的待測元素特征X射線強度 是不同的，這就是基體效應?；w效應是X射線熒光定量分析的主要誤差來源之一。
基體效應是個無法避免的客觀事實，其物理實質是激發(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發源的 射線和待測元素特征X射線產生光電效應的幾率比輕元素(在地質樣品中一些常見的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發源發射的X射線和待 測元素的特征X射線的吸收系數比輕元素大得多;輕元素對激發源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
1. 放射源放出的射線激發待測元素A，產生特征X射線AK線稱為光電效應。手持式合金分析儀價格
2.AKX線在出射樣品時遇到C元素激發了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強度減小了，稱為吸收效應。
3.放射源激發了B元素，BKX線又激發了A元素，使A元素特征X射線計數增加，稱為增強效應，又稱為二次熒光。
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