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納米軟件科普:用源表測試IV參數的典型應用及源表測試軟件

閱讀:319        發布時間:2023-2-9

  器件的I-V功能測試和特征分析是實驗過程中經常需要測試的參數之一,一般我們用到源表進行IV參數的測試,如果需要對測試的數據進行實時IV曲線圖顯示及保存,可以用到源表測試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關于用源表測試IV參數的典型應用及源表測試軟件

  一、各種器件的I-V功能測試和特征分析包括

  1、分立和無源元件

  兩端口器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

  三端口器件——小信號雙極結型晶體管(BJT)場效應晶體管(FET),等等

  2、簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感器、轉換器、穩壓器

  3、集成器件——小規模集成(SSI)和大規模集成(LSI)

  模擬IC

  射頻集成電路(RFIC)

  專用集成電路(ASIC)

  片上系統(SOC)器件

  4、光電器件,例如發光二極管(LED)、激光二極管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發射激光器 (VCSEL)、顯示器

  5、圓片級可靠性

  NBTI、TDDB、HCI、電遷移

  6、太陽能電池

  7、電池

  等等...

  二、NS-SourceMeter源表測試軟件IV特性測試應用案例

  這里以納米NS-SourceMeter源表軟件為例,用到軟件的掃描模塊進行IV曲線的測試演示。

  試驗參數設置界面

  在此界面中進行試驗的具體參數設置,選擇接線方式(二線法、四線法),掃描模式(從起點到終點單項掃描、從起點到終點循環掃描、從零點開始循環掃描),傳感器模式、輸出測試通道(通道、輸出類型、起點電壓、終點電壓、掃描步長、電流限制、測量間隔、循環間隔、循環次數),如下圖所示。

   運行測試界面(舉例說明)

  測試內容:伏安特性曲線(900KΩ)

  測量結果:源表會根據改模塊配置,如掃描模式(從起點到終點單項掃描),傳感器模式(關閉),通道(CH1),輸出類型(電壓輸出),起點電壓(0.10V),終點電壓(10.00V),掃描步長(0.10)、電流限制(1.00A),測量間隔(0.01S),循環間隔(0.10S),循環次數(1.00次)進行掃描,如下圖所示。

  源表測試軟件詳情介紹及下載地址:搜索【納米軟件】

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