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當前位置：廣東皓天檢測儀器有限公司>>恒溫恒濕試驗箱>>快速溫度變化試驗箱>> TEB-600PF半導體器件快速溫變試驗箱
| 產地類別 | 國產 | 內箱尺寸 | 800*800*900 |
|---|---|---|---|
| 外箱尺寸 | 1150*1850*2180 | 用途 | 材料耐高低溫測試 |
| 箱體材質 | 防銹處理冷軋鋼板 | 噪音 | ≤68db |
| 面板顏色 | 紫羅蘭、灰色 |
一、產品概述
二、產品用途
溫度范圍：高溫區：RT +10℃～150℃；低溫區：-70℃～RT -10℃，覆蓋半導體器件全生命周期的溫度測試需求。
溫變速率：線性升溫速率≥5℃/min，線性降溫速率≥5℃/min；非線性溫變可達 20℃/min，滿足不同測試場景的快速溫變要求。
溫度波動度：±0.5℃，確保測試過程中溫度的穩定性，減少實驗誤差。
溫度均勻度：±2℃，使箱內各區域溫度一致，保證測試結果的一致性與可靠性。
工作室尺寸：標準規格 600×600×600mm（寬 × 深 × 高），可根據客戶需求定制，適配不同尺寸半導體器件測試。
安全保護：具備超溫保護、壓縮機過載保護、漏電保護、斷水保護等多重安全防護機制，保障設備與人員安全。
四、溫變系統
制冷系統：采用二元復疊式制冷技術，搭配德國谷輪高效壓縮機與環保制冷劑，實現超低溫穩定輸出；智能變頻調節，根據溫變需求自動調整制冷功率，節能高效。
加熱系統：鎳鉻合金電加熱絲結合 PID 智能控溫算法，升溫快速且精準，確保高溫環境穩定維持。
氣流循環系統：多翼式離心風機與優化風道設計，強制空氣循環，加速溫變過程，使箱內溫度快速均勻分布，提升測試效率。
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