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當前位置：廣東皓天檢測儀器有限公司>>恒溫恒濕試驗箱>>快速溫度變化試驗箱>> TEB-408PF電子芯片用高低溫快速溫變試驗箱
| 產地類別 | 國產 | 內箱尺寸 | 600*800*850 |
|---|---|---|---|
| 外箱尺寸 | 950*1850*2100 | 用途 | 材料耐高低溫測試 |
| 箱體材質 | 防銹處理冷軋鋼板 | 噪音 | ≤68db |
| 面板顏色 | 紫羅蘭、灰色 |
一、產品用途
二、技術參數
溫度范圍：高溫區：RT +10℃~150℃；低溫區：-70℃~RT - 10℃，滿足芯片在各類環境下的測試需求。
溫度變化速率：線性升溫 / 降溫速率≥5℃/min，非線性速率可達 15℃/min，快速模擬溫度驟變場景。
溫度波動度：±0.5℃，保證測試過程中溫度的高度穩定，減少測試誤差。
溫度均勻度：±2℃，確保箱內各區域溫度一致，使芯片測試結果具備一致性與可靠性。
循環次數：0 - 9999 次可自由設定，適配芯片不同測試時長與循環要求。
轉換時間：高溫到低溫或低溫到高溫轉換時間≤8s，實現快速溫變切換，提升測試效率。
電源要求：AC380V±10%，50Hz，提供穩定電力支持設備運行。
安全保護：配備超溫保護、漏電保護、壓縮機過載保護、缺水保護等多重防護，保障設備與人員安全。
三、箱體結構與材質
整體結構：采用三廂式獨立結構設計，分別為高溫箱、低溫箱與測試箱，通過氣動風門快速切換冷熱氣流，避免溫度交叉干擾，確保測試環境純凈。
外殼材質：選用優質冷軋鋼板，表面經靜電噴塑處理，具有良好的防銹、耐磨、耐腐蝕性能，可適應實驗室復雜環境。
內膽材質：內部采用 SUS304 不銹鋼板，表面光滑平整、易于清潔，且無揮發物質，防止對芯片測試產生污染。
保溫材料：填充高密度聚氨酯發泡材料與超細玻璃纖維，隔熱性能優異，能有效降低能耗，防止箱體外壁結露，維持箱內溫度穩定。
觀察窗：配置多層中空鋼化玻璃觀察窗，搭配防爆照明燈，方便實驗人員在不干擾測試的情況下，實時觀察芯片測試狀態。
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