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示波器配近場探頭做干擾源定位的方法

閱讀:652      發布時間:2024-12-25
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       EMI測試(Electromagnetic Interference Testing,電磁干擾測試)是一種用于評估電子設備在其工作過程中產生的電磁干擾(EMI)水平的測試方法。EMI測試的目的是確保電子設備在正常工作時不會產生過多的電磁干擾,以免影響其他設備的正常運行。

RTO6示波器.jpg

       示波器配近場探頭主要是完成EMI測試中的輻射發射測試,即測量設備在工作時通過空氣傳播的電磁干擾。除了輻射發射測試,EMI測試還包括傳導發射測試,它需要使用EMI測試接收機/實時頻譜儀+人工電源網絡+隔離變壓器,測量設備在工作時通過電源線傳播的電磁干擾。這類測試通常在屏蔽室內進行,以減少環境噪聲對測試結果的影響。

1、確認示波器是否有對應的頻譜分析功能或者FFT功能,及對應的頻譜分析帶寬范圍,如1GHz或者3GHz。

2、確認示波器是否有對應近場探頭轉接頭的N型母頭接口,如果沒有N型接口就需要選擇帶BNC的轉接頭。

3、確認被測物的頻率范圍及對應的近場探頭類型,如磁場或電場,大部分頻率為9kHz~3GHz/6GHz/9GHz/18GHz。

4、連接近場探頭和示波器,打開示波器的頻譜分析功能,并且將近場探頭懸停在被測物上空2厘米處(越近越好),每隔5秒移動一次,看波形變化,也可以對比下開啟/關閉被測物瞬間波形變化。

5、如果被測信號比較小,可以加一個前置放大器搭配近場探頭使用。

6、發現干擾源之后,可以更換探頭(形狀由大到小)好確認具體的位置。

7、近場探頭是定性測試,不是定量測試,與暗室測試結果不盡相同。

8、長時間沒發現干擾源的時候,可以考慮購買EMI測試接收機或者實時頻譜分析儀搭配近場探頭使用。


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