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PA-300-MT-相位差/應力雙折射測量儀PA-300-MT
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貨物所在地：北京北京市

所在地： 日本

更新時間：2025-01-08 21:00:21

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PA系列是Photonic lattice公司傾力打造的測量儀，測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米，以其技術光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每樣品僅需幾秒鐘的測量能力，相位差/應力雙折射測量儀 PA-300-MT 是工業界優選。

相位差/應力雙折射測量儀 PA-300-MT 是Photonic lattice公司傾力打造的測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米，以其技術光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每樣品僅需幾秒鐘的測量能力，是工業界優選。

相位差/應力雙折射測量儀PA-300-MT?主要特點：
 

  • 操作簡單，測量速度可以快到3秒；
  • 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣；
  • 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點；
  • 具有多種分析功能和測量結果的比較；
  • 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構;
  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


相位差/應力雙折射測量儀PA-300-MT應用領域：

  • 小尺寸樣品
  • 光學鏡頭


主要技術參數： 

  項次           項目            具體參數
1輸出項目          相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】
 
2測量波長520nm
 
3雙折射測量范圍0-130nm
 
4測量小分辨率0.001nm
 
5測量重復精度<1nm（西格瑪）
 
6視野尺寸17.5x21mm到33x40mm（標準）
 
7選配鏡頭視野6.3x7.5mm
 
8選配功能                實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制


測量案例：
復印機鏡頭測量藍寶石測量單反相機鏡頭測量

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