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主要產品分四部分：
?n 光子晶體光學元件；
?雙折射和相位差評價系統；
?膜厚測試儀；
?偏振成像相機。
『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列
?快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的
?相位差、雙折射和內部應力應變分布
PA/WPA系統特點：
?操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
?2D數據的多方面分析功能：

高速雙折射測量 PA-200，PA-200-L

低相位差（如玻璃）的全面測試

針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應用，專門開發了PA系列的產品，測量速度快是核心。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。

產品特點：

曲線圖功能

CSV格式輸出

軸相位差顯示

縮放鏡頭功能

l 用于低相位差樣品測試的標準系統。

l 適用于檢測玻璃的應力或者透明晶片（如藍寶石、SiC和GaN）的內部缺陷。

型號	PA-200	PA-200-L
測量范圍	0-130nm
重復性	<1.0nm
像素數	1120x868
測量波長	520nm
尺寸	310x395x605.5mm	450x538x915.5mm
觀測到的zui大面積	100x136mm	250x300mm
重量	18kg	24kg
數據接口	GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制）
電壓電流	AC100-240V（50/60Hz）
軟件	PA-View

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