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詳細摘要：Synthesites OptiFlow樹脂到達和溫度監測系統提供經認證且可靠的實時樹脂到達時間記錄。當開發閉模生產時，樹脂流動模式幾乎不為人所知或僅憑猜想。此外，在生產過程中，只有在脫模后才能看到偏差，因為修正為時已晚。使用新的OptiFlow系統，可以在樹脂注射過

詳細摘要：樹脂固化在線監測控制系統OptiMold數據采集單元基于*的電子設備，即使在生產環境中，也可以現場實時測量固化熱固性樹脂和熱塑性樹脂的超高電阻（高達50 TOhm=5x1013 Ohm）。該電阻與測量的溫度和實時計算相結合，可以提供關于樹脂狀態的定量和定性指標，例如

詳細摘要：OptiMold數據采集單元基于*的電子設備，即使在生產環境中，也可以現場實時測量固化熱固性樹脂和熱塑性樹脂的超高電阻（高達50 TOhm=5x1013 Ohm）。該電阻與測量的溫度和實時計算相結合，可以提供關于樹脂狀態的定量和定性指標，例如樹脂老化、最小粘度、凝膠

詳細摘要：Higenberg 4007610 XRD分析毛細管適合XRD分析高精度測量，有多種外徑可選，上端漏斗狀開口,下端封閉。

詳細摘要：EddyCus TF lab 2020電阻率測量儀可以對導電薄膜進行手動單點測量，并以非接觸模式對薄金屬層進行層厚測量。這個緊湊的臺式設備是快速和準確測量200 x 200 mm²（8 x 8英寸）以下樣品的理想選擇。除了測量導電薄層外，還可以分析摻雜的晶圓和導電聚

詳細摘要：NeoColor 70高精度便攜式分光測色儀適用于3C產品、涂料、顏料、油墨、紡織、玻璃、化妝品、色母粒、塑料、汽車等行業的實驗室和生產過程中產品的顏色測量和控制，給制造商帶可靠的顏色數據自信度，不論在何時何地進行的測量，都經受的住考驗，為終端用戶的質

詳細摘要：NanoSystem CS-2000氣缸內壁表面形貌儀結合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術之外, 這款緊湊型系統還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產水平能力的三維表面形貌。

詳細摘要：Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進行表面形貌的測量，它結合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達21.7毫米x16.3毫米。這使得高精度和大面積快速測量成為可能，而無需縫合。

詳細摘要：HCAM-10KV高壓放大器采用全固態設計，具有高轉換速率、寬脈寬以及低噪聲性能。 可與任何信號發生器匹配，進行精確控制輸出電壓。 設備采用閉環設計，具備完善電路短路防護保障設備安全。

詳細摘要：HCAM-4000高壓放大器采用全固態設計，具有高轉換速率、寬脈寬以及低噪聲性能。 可與任何信號發生器匹配，進行精確控制輸出電壓。 設備采用閉環設計，具備完善電路短路防護保障設備安全。

詳細摘要：TSI ChemLite Plus金屬分析儀采用LIBS-OES原理測定金屬元素成分。ChemLite是真正安全的手持金屬分析儀，采用激光作為激發源，沒有X射線輻射和電擊的危險。ChemLite金屬分析儀堅固耐用，可以快速準確分析金屬合金中的各種元素，尤其對鋰、鈹、硼、鋁、鎂、硅等

詳細摘要：PZT薄膜-外延鐵電薄膜采用離軸射頻磁控濺射法在不同襯底上外延生長鐵電PZT薄膜。
外延鐵電薄膜具有高的結構質量，包括具有非常低波紋的表面和良好的鐵電性能。
這種薄膜是鐵電疇納米級研究的理想選擇，即使用AFM可以讀取和寫入具有反向極化的鐵電區

詳細摘要：Rigaku Miniflex 600臺式X射線衍射儀外型小巧方便，具有近于高階分析儀器的測試性能，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域，是一種適用于大專院校學生實驗及研究的X射線衍射儀,特別適合于野外作業進行材料結構解析

詳細摘要：S450型高性能手持式能量/功率計是光度、輻射、激光功率和光纖測量的理想選擇。設計用于實驗室設置或現場環境，微處理器控制的體系結構具有直接模擬顯示、串行RS-232輸出和模擬電壓輸出。

詳細摘要：PGX+便攜式接觸角測試儀是一個基于視頻功能的便攜式接觸角測試儀。PGX+便攜式接觸角測試儀符合 TAPPI T458，ASTM D-724,ASTM D-5946 測試標準。

詳細摘要：Linari Nanotech納米纖維靜電紡絲設備

詳細摘要：Linari Nanotech納米纖維收集器

詳細摘要：Linari Natotech 40KV靜電紡絲高壓直流電源

詳細摘要：奧林巴斯OLYMPUS DSX1000超景深數碼顯微鏡用于觀察和測量各種樣品，包括電子元件和金屬材料。此顯微鏡使用簡單，只要放上樣品，就可以輕松地完成 3D 觀察、測量、報告自動生成等一系列操作。

詳細摘要：奧林巴斯Olympus STM7工業測量顯微鏡系列采用了當前*光學顯微鏡中所使用的UIS2無限遠校正光學系統。因此，觀察到的圖像具有高分辨率和高對比度，此外，像差也被*消除，以確保實現對微小細節的高精度測量。