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徠卡偏光顯微鏡在裝置上的要求
閱讀：2574 發布時間：2020-5-25
徠卡偏光顯微鏡高度可調的聚焦器,能很好的適應每位用戶的手型；防止手掌、手臂、肩膀的緊張,保持工作姿勢舒服,無疲勞感。內置的聚焦可隨時保護樣品和物鏡的鏡頭,您可全神貫注于您的應用。用于各種專業的偏振光觀察,例如:巖相學,礦物學,地質結構特性,液晶檢驗。
徠卡偏光顯微鏡的主要特點：
1、顏色編碼光欄和物鏡一一對應,使孔徑光欄的設置變得輕而易舉,照明與物鏡總能實現配合，CDA能使您的顯微鏡操作更加規范,效果更加精確。
2、與DM 2500P匹配的偏光系統有2種,高級錐光模塊帶有可調中,調焦的伯式鏡和擴展視場,可滿足要求的錐光應用.標準錐光模塊帶有可調中伯式鏡,內置起偏鏡及晶粒檢測孔。
3、載物臺可選用帶45度卡位或不帶45度卡位,可配熱臺。
4、配合顯微鏡,開發了專業的CCD和軟件系統,可快速方便采集處理圖像,并您隨時可以通過軟件模塊擴展系統。
徠卡偏光顯微鏡在裝置上的要求：
1）光源：采用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
2）目鏡：要帶有十字線的目鏡。
3）伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡后焦平面中形成的干涉圖樣。
徠卡偏光顯微鏡是一臺多功能偏光顯微鏡, 適用于地礦, 石油, 化工等行業科研或質控。可配不同倍數的平場消色差, 平場半復消色差, 或平場復消色差偏光物鏡。易于連接135照相，視頻成像，數碼相機圖象分析軟件。設計用于各種偏振光檢驗：無論是用于巖相學、礦物學、結構特性還是液晶檢驗– 新型偏光顯微鏡都能滿足要求的選擇。