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Mahr 臺式表面粗糙度測量儀Perthometer S2
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貨物所在地: 上海上海市
更新時間: 2025-02-17 15:36:19
期: 2025年2月17日--2025年8月17日
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產品簡介

Mahr 臺式表面粗糙度測量儀Perthometer S2
特征:
1)依照現行標準可實現粗糙度和波度測量(DIN EN ISO 3274)
2)重量輕 (不包括內置充電電池)
3)高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結果和輪廓

詳細介紹

Mahr 的臺式表面測量儀適合于生產現場環境, 不但性能高而且操作簡易。 可處理在生產現場不斷增加的測量任務, 進行評定和文檔處理都表現很強的靈活性。 按照 ISO, JIS 和 ASME 標準, 可進行對標準粗糙度, 波度及輪廓參數的評定。無滑塊傳感器結合容易更換的測尖, 可快速實現不同的測量任務。

 

特征:
1)依照現行標準可實現粗糙度和波度測量(DIN EN ISO 3274)
2)重量輕 (不包括內置充電電池)
3)高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結果和輪廓
4)基于自動測量原理和多測量元素, 使得操作更簡單
5)通過內置熱敏打印機, 快速打印測量記錄
6)PCMCIA 存儲卡可存儲測量程序、測量結果和輪廓
7) S2Prog 擴展程序, 可簡單地建立測量程序
8)用途廣泛和簡易應用的軟件功能, 例如:
 ---自動設置標準濾波器和掃瞄長度功能
 ---校準和維護周期監察功能
 ---弧線濾除功能
 ---動態和靜態校準程序

 

 ---多達 41 種評定參數, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,MOTIF,

R,W, P 和 D 輪廓及特性曲線, 并可設定MRC/ADC 不同比例縮放
 ---濾波器和掃瞄長度可選
 ---公差監控, 以聲音和圖標提示
 ---密碼保護功能, 防止錯誤的設置和修改
 ---內置統計功能
 ---獨立功能按鍵
 ---簡易呼出和打印測量記錄及各種功能
 ---通過 PCMCIA 記憶于進行軟件升級
 ---SPC 接口可實現 S2 與生產程序連接
 ---RS 232 接口可實現數據傳輸和遠程

 

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