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泰勒霍普森粗糙度儀DUO應用信息

2025-6-11  閱讀(104)

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Surtronic DUO 是英國泰勒霍普森(Taylor Hobson)推出的高精度便攜式表面粗糙度測量儀,基于接觸式測量原理,通過金剛石測針與被測表面的精確接觸,實現對工件表面微觀幾何特征的量化分析。該設備融合先進的傳感器技術與智能算法,適用于生產現場、實驗室及計量檢測等多場景,滿足 ISO、ASME 等國際標準對表面粗糙度的測量要求。

核心技術特性

1. 多元參數測量能力

支持測量20 + 項粗糙度參數,覆蓋輪廓參數(如:


  • 幅度參數:算術平均偏差 Ra、輪廓最大高度 Rz(ISO 4287)/ Rt(ASME B46.1)、均方根偏差 Rq

  • 功能參數:輪廓支承長度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku

  • 原始輪廓參數PaPz(適用于精密加工表面分析)
    等),可滿足從基礎質量控制到復雜表面功能特性評估的多樣化需求。


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