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引言

解卷積是一種通過對數據進行數學處理來還原樣品色譜圖信息的過程。在LC-40系列中，SPD-M40檢測器擁有了i-PDeA Ⅱ（解卷積）功能。

i-PDeA Ⅱ（Intelligent Peak Deconvolution Analysis Ⅱ）是對光電二極管陣列（PDA）檢測器數據應用化學計量的MCR-ALS（Multivariate Curve Resolution with Alternating Least Squares）法，從未分離的峰內提取目標峰的數據分析方法。

未能通過色譜柱完全分離時也能準確定量，可在分析具有相同分子量的異構體等情況下使用。也可以對分離后的數據進行光譜識別。

智能峰解卷積功能，可實現共流出化合物的智能分離。如下圖所示：

i-PDeA Ⅱ（解卷積）功能操作流程

該功能操作簡便，可在LabSolutions再解析功能中直接處理數據，具體操作流程如下：

1、在再解析中，打開PDA檢測器的數據，單擊方法視圖內的【編輯】按鈕后，在方法視圖的【多色譜圖】標簽內單擊Ch1的【類型】。

2、設置截取波長210nm和帶寬4nm，勾選去卷積，并根據目標峰的洗脫時間設置去卷積條件（時間：1.6-2min，波長：自動）。

3、單擊方法視圖內的【視圖】按鈕。程序將執行去卷積和積分。

以上，就是該功能的操作流程，希望本文對您的工作有所幫助。