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準確分析含鍍層貴金屬成分,X射線熒光專利技術輕松搞定!

閱讀:422        發布時間:2022-9-20

金屬首飾生產公司質檢部門的內部會議中,針對近期的貴金屬首飾分析問題正在進行熱烈的討論,似乎他們遇到了難題,到底是什么呢?一起來看看!

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EDX專利技術解決難題

島津分析中心申請的中國發明專利《一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法》(ZL 2019 1 0867000.4已獲得國家知識產權局授權),專利技術為含鍍層貴金屬樣品成分的無損檢測提供了解決方案。

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樣品中的構成元素經過光源X射線激發后,發出特征熒光X射線,元素含量與熒光X射線強度之間存在著函數關系。基本參數法使用靈敏度系數f為校正因子,靈敏度系數為測試強度和理論強度的比值(f=I測/I理),使用貴金屬標準樣品進行校準。金屬鍍層對貴金屬基體元素的熒光強度存在不同程度的影響,常規貴金屬分析方法中理論強度的計算沒有考慮鍍層的影響,按照常規貴金屬分析方法計算的分析結果會產生偏差。專利技術引入了含鍍層貴金屬元素的理論強度算法,修正了鍍層元素對貴金屬基體組成元素理論強度的影響,使得原有的函數關系仍然成立,校正了含鍍層貴金屬基體成分的分析結果。一次分析,就可以得到鍍層厚度、基材貴金屬成分的結果。

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應用案例分享

取含銠鍍層貴金屬樣品(以黃金鍍銠樣品為例),分別使用常規分析條件(常規)、專利分析條件(專利)分析含銠鍍層黃金樣品,統計比較測試結果,評估鍍層對測試結果的影響及專利分析條件的修正效果。

1 對比測試結果

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常規&專利測試方法的分析誤差比較見圖2 。

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2 不同方法分析誤差比較

由上可以看出,(常規)分析含銠鍍層黃金樣品,黃金中貴重金屬元素Au的結果偏差較大,并隨著鍍層厚度的增加,分析偏差值呈現加大的趨勢。采用(專利)分析含銠鍍層黃金樣品,分析結果與參考值結果一致,表明專用分析條件(專利)對含銠鍍層黃金樣品分析結果有很好的修正效果,可以實現無損的快速分析。


另外,常規方法只能分析成分,專利分析方法可以同時測試出鍍層厚度和基材成分。

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常規方法分析結果

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專利方法分析結果

分析利器

島津EDX系列儀器有EDX-7000、EDX-7200、EDX-8000、EDX-8100、EDX-LE Plus,島津EDX系列儀器都可以應對包含鍍層的基體貴金屬成分分析,以常見型號EDX-7000為例。

EDX-7000能量色散型X射線熒光光譜儀特點

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EDX-7000能量色散型X射線熒光分析儀

結語

利用島津EDX系列儀器,可以對含鍍層的貴金屬基體成分進行定量分析,利用軟件算法修正鍍層對基體組成元素分析結果的影響,利用標準樣品校準系數,提高了分析結果的準確度。專用分析條件(專利)分析結果表明,該方法具有快速、無損、經濟、準確等諸多優點。含鍍層貴金屬成分準確分析,專利技術助力輕松搞定!

本文內容非商業廣告,僅供專業人士參考。



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