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據麥姆斯咨詢報道，Tokyo Tech（日本東京工業大學）的研究人員基于化學“可調”碳納米管材料開發出了一種柔性太赫茲成像儀。其研究發現大大拓展了太赫茲應用，包括環繞式、可穿戴技術，以及大面積光子學器件等。

　　基于碳納米管的柔性太赫茲成像儀誕生

　　圖1：（a）基于碳納米管（CNT）的柔性太赫茲成像儀；（b）環繞在指尖上的CNT太赫茲成像儀，可以方便地環繞在各種曲面上，僅需通過插入并旋轉指尖上的柔性太赫茲成像儀，就能清晰地探測管子上的破損。

　　碳納米管（CNT）應用正席卷電子產品世界，現在，它們在太赫茲技術領域的應用實現了跨越。

　　憑借其優異的導電性和的物理特性，CNT對于下一代電子器件來說吸引力。在太赫茲器件中的應用，便是其有前景的方向。太赫茲成像儀正成為傳統成像系統的安全和可行的替代方案，它適用于從機場安全、食品檢測和藝術品鑒定，到醫療和環境傳感技術等廣泛的應用。

　　對于能夠為廣泛工業應用提供實時成像的太赫茲探測器的需求，刺激了對低成本、柔性太赫茲成像系統的研究。東京工業大學未來跨學科科學研究實驗室的Yukio Kawano是該領域的世界ji專家。例如，2016年，他便宣布開發出了基于多維碳納米管的可穿戴太赫茲技術。

　　Kawano及其團隊一直在研究各種類型CNT材料的太赫茲檢測性能，因為還有足夠的空間來改進，以滿足工業級應用的需求。

　　現在，他們報道了柔性CNT薄膜太赫茲成像儀的新進展，能夠精細調整以發揮太赫茲探測器的大性能。

　　他們的研究成果發表于ACS的Applied Nano Materials（題為“Fermi-Level-Controlled Semiconducting-Separated Carbon Nanotube Films for Flexible Terahertz Imagers”），其新型太赫茲成像儀基于化學可調的半導體CNT薄膜。

　　研究人員通過利用一種被稱為離子液體柵極的技術，證明他們可以對厚度為30微米的碳納米管薄膜的太赫茲探測器性能的關鍵參素實現高度可控。如圖1所示，這種厚度對于確保太赫茲成像儀保持獨立的形狀和柔性非常重要。

　　“此外，”研究團隊補充說，“我們開發了基于可變濃度摻雜溶液的無柵極費米能級調諧，并制造了費米能級調諧的p-n結CNT 太赫茲成像儀。”研究人員利用這種新型成像儀在實驗中成功實現了標準信封中回形針的可視化，如圖2。

　　圖2：研究團隊開發的CNT太赫茲成像儀，實現了信封中回形針的清晰、非接觸、非破壞性可視化。

　　這款新型THz成像儀的可彎曲性和進一步微調的可能性，將大大擴展在不遠的將來對基于CNT太赫茲器件進一步開發的可能性。

　　此外，噴墨涂層等低成本制造方法，可使大面積太赫茲成像器件更容易制得。